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KFGS-1-120-D17-11L1M2S共和KYOWA應(yīng)變片通用箔應(yīng)變計(jì)
KFGS-1-120-D17-11L1M2S共和KYOWA應(yīng)變片通用箔應(yīng)變計(jì)庫存KFGS-1-120-D17-11L1M2S共和KYOWA應(yīng)變片通用箔應(yīng)變計(jì)庫存主要特性材料電阻元件CuNi合金箔材料基地聚酰亞胺與主要膠粘劑固化后的工作溫度（℃）CC-33A：-196至120℃CC-35：-10至120℃CC-36：-30至100℃EP-340：-55至150℃PC-600：-196至150℃與主要導(dǎo)線電纜組合的工作溫度(°C)聚酯涂層銅線：-196至150oC乙烯基涂層扁平電纜（L-6、L-7） -
DA-130N便攜式密度比重計(jì)KEM京都電子DA-130N便攜式密度比重計(jì)KEM京都電子便攜式密度比重計(jì)DA-130N它可以用一只手操作，并且可以測量到小數(shù)點(diǎn)后三位。雖然它是便攜式的，但它具有各種方便的功能，可以在任何測量地點(diǎn)使用。京都電子KEM推出的便攜式密度計(jì)DA-130Nc，專為石油產(chǎn)品設(shè)計(jì)，采用振蕩U形管法，精確測定液體石油產(chǎn)品的密度、相對密度或API比重。操作簡便，測量范圍廣，精度高達(dá)±0.001g/cm3，適用于現(xiàn)場快速測試。內(nèi)置純水密度表，支持自動(dòng)校正，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)高達(dá)1100組，標(biāo)配
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S-VANS高照度鹵素檢查照明裝置185LE庫存S-VANS高照度鹵素檢查照明裝置185LE庫存適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成如下。光源：直流點(diǎn)燈17V/185W鹵素?zé)衾鋮s方式：強(qiáng)制空冷電源電圧：AC95V～AC260V，50/60Hz尺寸：光源136mmH×112mmW×150mmD重量：光源2.3kg立桿5.0kg高照度照明設(shè)備(表面檢查燈)185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)
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ARE-310精密脫泡消泡攪拌機(jī)THINKY新基池田屋庫存ARE-310精密脫泡消泡攪拌機(jī)THINKY新基池田屋庫存旋轉(zhuǎn)/公轉(zhuǎn)攪拌機(jī)泡取連太郎常壓型行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)旋轉(zhuǎn)/公轉(zhuǎn)混合器，非常適合在研究、開發(fā)和生產(chǎn)過程中制備少量材料。模型ARE-310最大承載能力310克粟取連太郎單杯分散常壓型攪拌生產(chǎn)用途研究開發(fā)支持消泡消泡方式特征配備的冷卻機(jī)制。如需連續(xù)使用，我們推薦使用ENetsamashi（可選）的套裝。它用途廣泛，可與從低粘度到高粘度的各種材料一起使用。可以實(shí)現(xiàn)細(xì)顆粒的均勻分散。高粘度物料的攪拌和消
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精品KAKUHUNTER寫真化學(xué)紅外透射膜厚監(jiān)測儀
精品KAKUHUNTER寫真化學(xué)紅外透射膜厚監(jiān)測儀精品KAKUHUNTER寫真化學(xué)紅外透射膜厚監(jiān)測儀特征紅外透射膜厚監(jiān)測儀可測量電池隔膜等半透明片材、黑色抗蝕劑等低反射膜、硅片等的厚度。這是一款紅外吸收式薄膜測厚儀，可用于從實(shí)驗(yàn)室水平到生產(chǎn)過程中100%在線檢測的所有情況。這是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過100多個(gè)波長的光譜同時(shí)精確測量薄膜厚度、密度和成分等多個(gè)參數(shù)。1測量半透明片、低反射膜、硅等的厚度，這是使用光學(xué)干涉測量法難以做到的。2小型光纖探頭通過使 -
今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì)
今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì)今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì)這是一種膜厚計(jì)，可以利用顯微圖像光譜法將透明多層膜的膜厚分布可視化。由于使用光學(xué)干涉法計(jì)算膜厚，因此可以以0.1nm以下的分辨率以3D方式顯示膜厚分布。測量顯微鏡視野內(nèi)任何區(qū)域的膜厚和膜質(zhì)量分布，并以3D形式顯示分布分辨率相當(dāng)于可見光波長干膜測厚儀波長范圍從450nm到750nm可以以1nm增量使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計(jì)算引擎進(jìn)行并行計(jì)算應(yīng)用實(shí)例①數(shù)百層重復(fù)層壓薄膜、溝槽等復(fù)合結(jié)構(gòu)。②使用EMA（有效 -
KAKUHUNTER寫真化學(xué)測繪測量膜厚儀KAKUHUNTER寫真化學(xué)測繪測量膜厚儀特征測繪膜厚儀能夠?qū)ψ畲?00mm的晶圓整個(gè)表面進(jìn)行自動(dòng)測繪膜厚測量。自動(dòng)對準(zhǔn)功能和高度平坦的晶圓吸盤可實(shí)現(xiàn)高度可靠的膜厚測量。另外，通過設(shè)置在半導(dǎo)體制造裝置的裝載口，可以在保持清潔度的同時(shí)管理制造裝置上的膜厚。1可對最大300mm的晶圓進(jìn)行全表面自動(dòng)薄膜厚度測繪測量2自動(dòng)對位功能通過自動(dòng)檢測缺口和定向平面位置以及自動(dòng)檢測晶圓偏心，實(shí)現(xiàn)高精度測量。3通過使用具有高平坦度的晶圓卡盤，提高了晶圓平面內(nèi)的測量可靠性4可
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今日分享KAKUHUNTER寫真化學(xué)反射式膜厚監(jiān)測儀
今日分享KAKUHUNTER寫真化學(xué)反射式膜厚監(jiān)測儀今日分享KAKUHUNTER寫真化學(xué)反射式膜厚監(jiān)測儀反射式膜厚監(jiān)測儀是一種反射分光式膜厚計(jì)，采用小型反射探頭并采用光學(xué)干涉測量法，可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室水平到生產(chǎn)過程中在線100%檢查的所有情況。它具有出色的可維護(hù)性，可以集成到工藝設(shè)備中或用于生產(chǎn)線管理目的。最多可同時(shí)測量9種透明薄膜。它具有出色的可維護(hù)性，可以集成到工藝設(shè)備中或用于生產(chǎn)線管理目的。例如，它可以用作成膜、拋光和蝕刻過程中的在線監(jiān)控器或終點(diǎn)監(jiān)控器（終點(diǎn)檢測傳感器），并可以實(shí)時(shí)監(jiān)控膜厚。
