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今日分享KAKUHUNTER寫(xiě)真化學(xué)反射式膜厚監(jiān)測(cè)儀
今日分享KAKUHUNTER寫(xiě)真化學(xué)反射式膜厚監(jiān)測(cè)儀
反射式膜厚監(jiān)測(cè)儀是一種反射分光式膜厚計(jì),采用小型反射探頭并采用光學(xué)干涉測(cè)量法,可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室水平到生產(chǎn)過(guò)程中在線100%檢查的所有情況。它具有出色的可維護(hù)性,可以集成到工藝設(shè)備中或用于生產(chǎn)線管理目的。
最多可同時(shí)測(cè)量 9 種透明薄膜。
它具有出色的可維護(hù)性,可以集成到工藝設(shè)備中或用于生產(chǎn)線管理目的。
例如,它可以用作成膜、拋光和蝕刻過(guò)程中的在線監(jiān)控器或終點(diǎn)監(jiān)控器(終點(diǎn)檢測(cè)傳感器),并可以實(shí)時(shí)監(jiān)控膜厚。它
還可用于評(píng)價(jià)多晶硅的結(jié)晶度和多孔薄膜的密度。
我想輕松測(cè)量透明多層薄膜每一層的厚度。
我想自動(dòng)測(cè)量多個(gè)點(diǎn)的薄膜厚度。
我想以10μm以下的高分辨率研究膜厚分布。
我想測(cè)量半透明板的厚度。