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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Chroma/致茂
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2023-11-27 17:29:35瀏覽次數(shù):1962次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)電動(dòng)機(jī)功率 | 0.5kW | 外形尺寸 | 133*430*470mm |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車(chē),電氣 | 重量 | 20kg |
耐壓測(cè)試 | 5kVac & 6kVdc | 絕緣阻抗測(cè)試 | 1MΩ~50GΩ /5kV |
直流電阻測(cè)試 | 10mΩ~500kΩ | 通道數(shù) | 8通道掃描輸出 |
19035安規(guī)掃描測(cè)試儀
詳細(xì)介紹
Chroma 19035擁有5kVac/6kVdc高壓輸出,符合繞線組件之耐壓測(cè)試需求,輸出電流可達(dá)30mA。IR絕緣電阻測(cè)試可量測(cè)范圍為1MΩ到50GΩ,電壓輸出可達(dá)5kV。DCR直流電阻量測(cè)除了可量測(cè)繞線組件之基本規(guī)格,也可做為安規(guī) 耐壓測(cè)試之前連接(接觸)檢查。 其具有Flashover、OSC (開(kāi)短路偵測(cè)) 等強(qiáng)大附加功能,以及可程序電壓值、時(shí)間參數(shù)等,針對(duì)不同的待測(cè)物特性,防止不良品輕易通過(guò)質(zhì)量驗(yàn)證,提升測(cè)試本身的信賴度及產(chǎn)品質(zhì)量。 為針對(duì)馬達(dá)、變壓器、加熱器等相關(guān)繞線組件測(cè)試需求,所設(shè)計(jì)的綜合安規(guī)測(cè)試器。大多數(shù)繞線組件具有多組繞組,如三相馬達(dá)、雙繞組變壓器等,利用19035八信道掃描,無(wú)需手動(dòng)切換測(cè)試點(diǎn),達(dá)成多點(diǎn)一次測(cè)試完成,節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。 還可提供OSC及DCR功能,檢驗(yàn)測(cè)試過(guò)程中是否接觸不良或有待測(cè)物短路的現(xiàn)象,解決馬達(dá)、 變壓器等繞線組件測(cè)試時(shí)所發(fā)生的接觸問(wèn)題,提升測(cè)試質(zhì)量及延長(zhǎng)測(cè)試設(shè)備的壽命
主要特點(diǎn)
■支持16信道掃描測(cè)試
■高速接觸檢查 (HSCC)
■次測(cè)項(xiàng)功能
■OSC開(kāi)短路偵測(cè)
■GFI人體保護(hù)電路
■Flashover 偵測(cè)
■面板鎖定功能
■標(biāo)準(zhǔn)RS232接口
■可選購(gòu)GPIB&HANDLER接口
■CE認(rèn)證 主要功能
■5kVac & 6kVdc 耐壓測(cè)試
■1MΩ~50GΩ /5kV 絕緣阻抗測(cè)試
■10mΩ~500kΩ 直流電阻測(cè)試
■8信道掃描輸出
開(kāi)短路偵測(cè)
OSC功能為偵測(cè)測(cè)試過(guò)程中是否有開(kāi)路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)的情形發(fā)生。測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生開(kāi)路現(xiàn)象,會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象,可提早得知并篩選,減少對(duì)治具設(shè)備的傷害,節(jié)省測(cè)試成本。 一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx),在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間。一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(Cc),一般低于10pF, 而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象,而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?,F(xiàn)象,因此可利用電容量變化之上下限值判斷接線是否良好。
次測(cè)項(xiàng)功能 - 繞線組件多顆測(cè)試
生產(chǎn)廠商為了提升耐壓測(cè)試效率,常以并聯(lián)測(cè)試做為解決方法。但并聯(lián)測(cè)試時(shí),無(wú)法正確設(shè)定電流上下限值,導(dǎo)致不良品流出或良品判為不良品,以及不良時(shí)需至后測(cè)站進(jìn)行測(cè)試,增加站數(shù)及成本。 為解決并聯(lián)測(cè)試的困擾,19035提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測(cè)試時(shí),經(jīng)由程序的編輯,以不良(Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試于主測(cè)項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí),才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試 (單顆),即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物。此功能的導(dǎo)入,將大幅提升產(chǎn)線的耐壓測(cè)試效率。
范例:
STEP 1: AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7 Sub
step A: AC Hipot / pin1 to pin5 Sub
step B: AC Hipot / pin1 to pin6 Sub
step C: AC Hipot / pin1 to pin
40信道掃描測(cè)試
19035安規(guī)掃描測(cè)試儀每個(gè)選配件A190359掃描儀提供16個(gè)測(cè)試信道,每個(gè)信道都可設(shè)定為H(高壓輸出)、L(參考點(diǎn))或是Off(不設(shè)定)。19035與A190359的組合可讓繞線組件測(cè)試更有效率。19035配合兩臺(tái)A190359, 測(cè)試通道更可達(dá)40組,對(duì)于多腳或多顆待測(cè)物可以一次完成接觸檢查及測(cè)試。
19035測(cè)試器與2臺(tái)16CH高壓掃描冶具A190359的接線方式
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