安捷倫矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的產(chǎn)品特點:
*頻率范圍:300 kHz至8.5GHz
*在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
*寬動態(tài)范圍:在測試端口上的動態(tài)范圍>123 dB(典型值)
*極快的測量速度:39 ms(進行雙端口校準,掃描1601點時)
*低跡線噪聲:0.004 dB rms(70 kHz IFBW時)
*集成的2和4端口,帶有平衡測量能力主要特性與技術(shù)指標。
E5071C廣泛的動態(tài)范圍:在測試端口處具有>123 dB的動態(tài)范圍(典型值)
E5071C極快的測量速度:全雙端口校準時為41 ms,1601點
E5071C低跡線噪聲:70 kHz中頻帶寬(IFBW)處為0.004 dB rms
E5071C集成的S參數(shù)測試裝置
E5071C端口選項:2端口和4端口
E5071C平衡測量能力(4端口選件)
E5071C頻率選件:9 kHz至4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz至4.5 GHz/8.5 GHz(帶有偏置T型接)
安捷倫矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的產(chǎn)品說明:網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071C操作說明介紹,E5071C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ENA 9 kHz至4.5/6.5/8.5/14/20 GHz 2或4端口,50Ω,S參數(shù)測試儀。
e5071c操作說明:
?。ㄒ唬┰O(shè)置測量條件
(二)校準
?。ㄈ┢渌O(shè)置
E5071C設(shè)置測量條件:
1.設(shè)置通道布局
a.按“Display”(顯示)鍵>“Allocate Channels”(分配通道)。
b.按所需功能鍵以選擇如下所示的窗口布局。
2.設(shè)置跡線布局
a.按工作通道/跡線區(qū)的“Channel Next”(下一通道)(或“Channel Prev”(上一通道)),以選擇要設(shè)置跡線號的通道;
b.按響應(yīng)區(qū)的“Display”(顯示)>點取屏幕右側(cè)菜單中的“Number of Traces”(跡線數(shù));
C.按“Allocate Traces”(分配跡線),從跳出的跡線的布局窗口中選擇需要的布局方式。
3.為每個設(shè)置項目設(shè)置參數(shù):
4.測試坐標刻度設(shè)置
a.自動定坐標:首先選定需要定坐標刻度的通道,然后按“Scale”(刻度)>“AutoScale”(自動定標)。
b.手動刻度調(diào)整:
b-1首先選定需要定坐標刻度的通道;
b-2按“Scale”(刻度)鍵;
b-3選擇需要調(diào)整的特定功能所對應(yīng)的功能鍵:
E5071C校準:
1.ECal(電子校準)
a.通過USB電纜將ECal模塊上的USB端口與E5071C上的USB端口相連接。可以在E5071C的電源接通時進行此連接;
b.使ECal模塊預(yù)熱15分鐘,直至模塊的指示從“WAIT”(等待)變?yōu)?ldquo;READY”(就緒);
c.將ECal模塊上的端口連接到要校準的測試端口;
d.如果未利用ECal模塊的所有端口,應(yīng)將終端連接到未利用的端口;
e.按“Channel Next”(下一通道)/“Channel Prev”(上一通道)鍵,選擇要進行校準的通道;
f.按“Cal”(校準)鍵;
g.單擊菜單的“ECal”(電子校準)>“1-Port Cal”(1端口校準);
h.通過單擊所選端口的功能鍵進行1端口校準。
2.手動校準
a.按“Channel Next”(下一通道)/“Channel Prev”(上一通道)鍵,選擇要進行校準的通道;
b.按“Cal”(校準)鍵;
c.選用對應(yīng)的校準件(如85033D校準件),并點擊“Cal Kit”選擇對應(yīng)的校準模塊。
深圳市星琪儀器儀表有限公司:
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