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Chroma 19501-K致茂局部放電測試儀內(nèi)建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(PartialDischarge, PD)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出 0.1kV~10kV ，漏電流測量范圍0.01µA~300µA，局部放電偵測范圍1pC~2000pC，針對高壓半導體組件與高絕緣材料測試應用所設計與開發(fā)。

Chroma 19501-K局部放電測試器產(chǎn)品設計符合IEC60270-1法規(guī)，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器 (Narrowband) 量測技術進行PD放電量測量，并將量測結果以直觀數(shù)值 (pC) 顯示在屏幕上讓用戶清楚明了待測物測試判定結果。

產(chǎn)品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測試方法于儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求，并提供用戶便利的操作接口。

于生產(chǎn)在線執(zhí)行高壓測試時，如果待測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至發(fā)生漏測的風險，因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。Chroma高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之組件，于高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測試有效性與生產(chǎn)效率。

在固體絕緣物中含有氣隙或雜質混合在絕緣層時，額定工作高壓狀態(tài)下，由于較高的電場強度集中于氣隙而產(chǎn)生局部放電 (Partial Discharge),持續(xù)性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產(chǎn)品之長久信賴性，而引起安全事故。

應用于電源系統(tǒng)之安規(guī)組件，如光耦合器，因考慮如果組件長時間發(fā)生局部放電對于絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進而引發(fā)使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，于生產(chǎn)過程中 (Routine test) 必須100%執(zhí)行局部放電 (Partial discharge) 檢測，在最大絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產(chǎn)品在正常工作環(huán)境中不會發(fā)生局部放電現(xiàn)象。

局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之組件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產(chǎn)品質量與提升產(chǎn)品可靠度。

致茂局部放電測試儀19501-K產(chǎn)品特點：

■ 單機內(nèi)建交流耐壓測試與局部放電偵測功能

■ 可程序交流耐壓輸出 0.1kVac~10kVac

■ 高精度及高分辨率電流表 0.01µA~300µA

■ 局部放電(PD)偵測范圍 1pC~2000pC

■ 高壓接觸檢查功能( HVCC)

■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規(guī)測試要求

■ 內(nèi)建IEC60747-5-5測試方法

■ 量測與顯示單元分離式設計

■ 三段電壓測試功能

■ PD測量結果數(shù)值顯示 (pC)

■ PD不良發(fā)生次數(shù)判定設定 (1~10)

■ 多語系繁中/ 簡中/英文操作接口

■ USB畫面擷取功能

■ 圖形化輔助編輯功能

■ 標準LAN、USB、RS232遠程控制接口

產(chǎn)品優(yōu)勢：

局部放電 Partial Discharge

局部放電意指在絕緣物體中局部區(qū)域發(fā)生放電，且未形成兩電極間的固定通道放電即稱為局部放電。局部放電測試器對待測物施加一個特定條件下的電壓，測量其視在放電電荷量(PD)，除了驗證其能否承受瞬間高電壓(Hipot Test)的能力，同時也驗證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測試能夠偵測待測物是否存在異常氣隙，透過施加一個略高于組件最高額定工作電壓的局部放電電荷測試，用以檢驗電氣組件在正常工作電壓條件下之長久可靠性，但于實際生產(chǎn)上絕緣材料內(nèi)部當然不可能無氣隙存在于絕緣材料內(nèi)，故在IEC60747-5-5光耦合器法規(guī)針對局部放電測試定義其放電電荷量不能大于5pC (qpd=5pC)。

局部放電器校正

局部放電測試設備用于測量與判定微小放電量，其訊號非常微小且快速，因此局部放電量測設備必須經(jīng)過精確的校正才能確保在局部放電發(fā)生時高頻的放電訊號能夠被精確的測量。校正器上所使用的標準電容C0通常為一個低壓電容器，執(zhí)行PD校正時局部放電測試器設備是在不帶電的狀態(tài)下進行校正，針對PD放電量q0=V0C0 。如圖說明 :

高精準量測

Chroma 19501-K擁有高精度的局部放電測量，具有兩個量測檔位，分別為200pC與2000pC檔位，測量范圍從1pC~2000pC，在200pC文件位下最佳分辨率為0.1pC，高精度的測量與直觀性的將量測結果顯示在畫面上，有助于對高絕緣物體進行微小放電量判定與分析。

抗干擾結構設計

局部放電測試器具備窄頻域濾波器用以測量被測元器件微小放電量，然而測試儀器在工廠端的使用不同于在實驗室內(nèi)，工廠環(huán)境干擾因素相對多，可能包含來自現(xiàn)場自動化機械運轉，馬達作動或其它的高頻輻射干擾；因此于產(chǎn)在線使用其環(huán)境噪聲干擾將會增加，進而影響PD的測量與判定，如何降低與避免局部放電設備的量測回路受到高頻輻射干擾，對于生產(chǎn)業(yè)者與自動化設備商來說是一大課題。

局部放電發(fā)生時其放電反應速度快通常為nS，為高頻放電且其訊號非常微小，因此很容易受到周遭高頻輻射干擾而出現(xiàn)測量誤差，造成測量系統(tǒng)不確定因素增加，要如何做到精確量測PD放電量又必須避免受到這些高頻輻射干擾，對于局部放電儀器設計技術上是一個挑戰(zhàn)。

Chroma 19501-K 局部放電測試器了解到設備的使用環(huán)境中可能存在不可避免的高頻輻射干擾，因此在產(chǎn)品設計架構上采用量測與顯示單元分離式設計，將量測模塊外移，以接近待測物的方式進行量測，降低因為長距離的測試線導致易受到周遭環(huán)境高頻輻射干擾。同時于量測線路設計上采用訊號隔離方式設計，于測試端以最短回路方式使用探針出線并在低壓回路端以銅環(huán)隔離環(huán)境輻射干擾，避免PD測量回路受到外部噪聲干擾確保測量精準度。

產(chǎn)品應用：

光耦合器法規(guī)應用

在IEC60747-5-5 法規(guī)中，對于光耦合器相關之電氣安全要求、安全試驗及測試方法等項目已清楚定義，提供給光耦合器組件一個安全應用的指導性準則。Chroma19501-K局部放電測試器符合法規(guī)對于電氣安全測試要求及測試方法，法規(guī)中針對光耦合器在生產(chǎn)過程中定義為必須100%執(zhí)行局部放電測試 (Partial Discharge Test)，且明訂局部放電測試電壓要求提供給生產(chǎn)業(yè)者參考準則，局部放電測試電壓于生產(chǎn)測試時，定義以1.875倍常數(shù)乘上標稱的最高絕緣工作電壓或重復發(fā)生最大絕緣峰值電壓 (取電壓值高者)，做為局部放電測試電壓，其電壓計算公式參考如下 :

符合 IEC 60747-5-5 與 VDE 0884 法規(guī)測試

Chroma 19501-K 產(chǎn)品針對光耦合器產(chǎn)業(yè)應用，內(nèi)建IEC60747-5-5 法規(guī)中所要求的測試方法 (b1)、方法 (b2) 與方法 (b3) 等三個測試模式，并以圖面顯示輔助用戶進行程序編輯設定，幫助用戶快速學習與便利儀器操作，提升操作人員使用效率。

三段電壓測試

除了滿足光耦合器法規(guī)測試要求，Chroma針對光耦合器于生產(chǎn)過程要能符合法規(guī)中對局部放電測試要求外，部分生產(chǎn)廠商在生產(chǎn)工藝上會需求額外以一個高于法規(guī)之測試電壓執(zhí)行絕緣耐壓測試并加入PD放電量偵測，以提升組件質量與工廠內(nèi)部加嚴質量管控，但在加嚴檢測后生產(chǎn)業(yè)者仍須將測試電壓降至法規(guī)規(guī)范之測試電壓(Vpd)再執(zhí)行檢測，確認產(chǎn)品符合法規(guī)要求。Chroma 19501-K三段電壓測試功能，針對這類型生產(chǎn)廠商，增加第三階段質量管控測試電壓，能同時滿足法規(guī)要求與生產(chǎn)質量管控之目的。

PD不良發(fā)生次數(shù)判定設定

局部放電測試器于組件絕緣質量檢測上必須能精確測量到組件微小放電量，當PD發(fā)生時其訊號非常微小，且容易受到環(huán)境中高頻輻射干擾而造成測量偏差，因此為降低生產(chǎn)過程中受到外部干擾而產(chǎn)生誤判行為，Chroma 19501-K局部放電測試器能提供使用者設定PD不良發(fā)生次數(shù)的判定設定，確保局部放電器所量測到的放電量來自待測物而非受到周遭環(huán)境一次性干擾。

當局部放電器施加高電壓在固體絕緣時，在絕緣固體中的洞隙放電量會伴隨著電壓變化而發(fā)生周期性放電，因此放電量對比于環(huán)境中的高頻噪聲是相對穩(wěn)定持續(xù)發(fā)生，故19501-K設計判斷放電量必須累計連續(xù)4個電壓半波周期至少發(fā)生一次，超過最大放電量才會計數(shù)一次，當中如有發(fā)生判定次數(shù)未連續(xù)發(fā)生時，則PD不良發(fā)生次數(shù)判定將會歸零并重新計數(shù)，直到連續(xù)發(fā)生超過使用者所設定的次數(shù)，測試結果才會為不良判定。

HVCC 高壓接觸檢查功能

針對高絕緣能力之組件于高壓輸出時進行接觸檢查非常重要，Chroma高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC)是利用Kelvin測試方法，針對高絕緣能力之組件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，以提升測試可靠度與生產(chǎn)效率， 其應用接線回路示意如圖示 :

致茂授權代理商：蘇州威銳科電子有限公司

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訂購信息：

19501-K : 局部放電測試器

A195001: PD校正器

B195000: 電磁遮蔽罩

B195001: 高壓連接轉接座

B195002: DIP測試治具