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當前位置:> 供求商機> 緊湊型原子力顯微鏡
緊湊型原子力顯微鏡工作模式:
1.標準工作模式:
1.1輕敲模式(Vibration mode)
1.2接觸模式(Contact mode)
1.3相位成像模式(Phase imaging)
1.4橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲線測試(Force curve)可測楊氏模量
1.6納米操控 (Nanomanipulation)
1.7納米刻蝕 (Nanolithography)
1.8力矩陣模式 (Force Mapping)
1.9摩擦力測試 (Friction Mode)
2. 可選工作模式:
2.1 磁力顯微鏡模式(MFM mode)
2.2 靜電力顯微鏡模式(EFM mode)
2.3 導電顯微鏡模式(C-AFM mode)
2.4 液相模式 (Liquid scan mode)
AFMWorkshop是專門從事設計和制造原子力顯微鏡的專業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗的 Paul West博士,原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
緊湊型原子力顯微鏡技術(shù)參數(shù)
掃描范圍:100 μm,50 μm,15μmZ
方向范圍:17 μm,7 μm
XY方向驅(qū)動分辨率:0.01 nm
Z方向驅(qū)動分辨率:0.003 nm
Z方向測量噪音水平:0.15 nm
樣品尺寸:直徑25mm
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