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HR-AFM快速掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時可對樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測定與分析。

國內(nèi)生產(chǎn)的HR-AFM原子力顯微鏡

標(biāo)準(zhǔn)工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導(dǎo)電原子力顯微鏡 （C-AFM），磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢顯微鏡（SKPM）。

快速掃描探針顯微鏡具有軟件自動進(jìn)針功能。通過軟件控制Z方向馬達(dá)實現(xiàn)探針自動進(jìn)針

X,Y,Z三軸分離的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸：25mm*25mm*18mm

操作軟件：使用Laview環(huán)境語言控制，免費提供操作軟件，并提供維護(hù)及升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)

頂視系統(tǒng)光學(xué)分辨率≤2微米

視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調(diào)，放大倍率從45倍到400倍機械可調(diào)

側(cè)視系統(tǒng)，提供可視化下針，可以通過電腦精確觀察控制下針過程，防止撞針