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當前位置:> 供求商機> 多功能掃描探針顯微鏡
HR-AFM多功能掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡,Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu);同時可對樣品表面物理化學特性進行研究,數(shù)值測定與分析。
國內(nèi)生產(chǎn)的HR-AFM原子力顯微鏡
標準工作模式:輕敲模式(Vibration mode),接觸模式 (Contact mode),相位成像模式 (Phase imaging),橫向力模式 (LFM),力曲線測試(Force Curve),納米操控 (Nanomanipulation),納米刻蝕 (Nanolithography),力矩陣模式 (Force Mapping),摩擦力測試 (Friction Mode)
可選工作模式:導(dǎo)電原子力顯微鏡 (C-AFM),磁力顯微鏡(MFM),靜電力顯微鏡(EFM),掃描電勢顯微鏡(SKPM)。
多功能掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現(xiàn)探針自動進針
X,Y,Z三軸分離的掃描器。
掃描范圍 100×100×17μm
Z軸分辨率0.035nm
樣品臺尺寸:25mm*25mm*18mm
操作軟件:使用Laview環(huán)境語言控制,免費提供操作軟件,并提供維護及升級
提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)
頂視系統(tǒng)光學分辨率≤2微米
視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調(diào),放大倍率從45倍到400倍機械可調(diào)
側(cè)視系統(tǒng),提供可視化下針,可以通過電腦精確觀察控制下針過程,防止撞針
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