目錄:賽非特科學(xué)儀器(蘇州)有限公司>>透射電子顯微鏡>> JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡
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更新時(shí)間:2024-09-01 20:39:13瀏覽次數(shù):472評(píng)價(jià)
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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)在寬范圍加速電壓內(nèi),超高空間分辨率下高靈敏度分析。
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡主要特點(diǎn)
1. FHP2 新型物鏡極靴
保證超高空間分辨率觀察的同時(shí),優(yōu)化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs(158mm2)的需求,x射線有效檢測(cè)效率提高了兩倍以上,實(shí)現(xiàn)亞埃級(jí)分辨率的EDS元素面分析。
2. 新型屏蔽體
TEM柱采用箱式外殼,可減少溫度、氣流、噪聲等環(huán)境變化的影響,從而提高顯微鏡的穩(wěn)定性。
3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™
快速準(zhǔn)確的像差校正
4. 穩(wěn)定性提高
CFEG采用小型SIP泵,快速提高真空度,提高了發(fā)射體附近的真空、發(fā)射電流、探針電流的穩(wěn)定性。其他改進(jìn)也提高了顯微鏡的穩(wěn)定性和對(duì)各種干擾的抵抗力。
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