Fischerscope X-ray XAN215鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。