日本JEOL 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F

產(chǎn)品特點(diǎn)：

電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開(kāi)發(fā)和的分析工具被廣泛使用，其用途越來(lái)越廣。此外，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng)，在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作，是更的一體化集成場(chǎng)發(fā)射EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡(jiǎn)稱