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當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>德國FISCHER菲希爾測厚儀>>Fischer菲希爾測厚儀>> 鍍銀層厚度測量
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Helmut Fischer/德國菲希爾
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地無錫市
更新時間：2024-06-20 16:39:27瀏覽次數(shù)：521次
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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合 |
從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今，菲希爾的測量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對儀器準確度、精度和可靠性的要求。目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大，可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞。
菲希爾X射線熒光分析法 (XRFA)：
能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
菲希爾X射線熒光法（XRFA）的優(yōu)點：
快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）
分析固態(tài)，粉末或液態(tài)樣品
有害物痕量分析
高精度和準確度
十分廣泛的應(yīng)用
準確測量基材是磁性和導(dǎo)電的材料
樣品制備非常簡單
測試方法安全，沒有使用危害環(huán)境的化學(xué)制品
無耗品，物超所值
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