菲希爾測厚儀Dualscope FMP20江蘇代理

菲希爾測厚儀Dualscope FMP20江蘇代理

Dualscope FMP20測厚儀采用了磁性測厚法，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀是一種超小型測量儀，Dualscope FMP20它能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀適合于使用在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動識別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測量。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀配備有一個*的和便于讀取的 60 x 30 mm (2.4" x 1.2"))液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示
DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法，適用于測量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鋼和鐵上
油漆，臘克和合成涂層在鋼和鐵上

FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。
XDL-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對于XDL-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實(shí)現(xiàn)簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進(jìn)行測量。

全權(quán)負(fù)責(zé)FISCHER產(chǎn)品在中國地區(qū)的銷售、安裝、維修、備品備件及技術(shù)咨詢等業(yè)務(wù)。
FISCHER生產(chǎn)的涂鍍層測厚儀主要分為：X射線涂鍍層測厚及材料分析儀、β射線測厚儀、電渦流法測厚儀、電磁感應(yīng)測厚儀、庫侖法（多層鎳電位差）測厚儀，除此之外還有包括 微納米硬度測試儀、電導(dǎo)率測試儀、鐵素體含量測試儀、孔隙率測試儀 和 針孔測試儀 等在內(nèi)的多種測試儀器。