德國(guó)sartorius分析實(shí)驗(yàn)室天平
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
德國(guó)sartorius分析實(shí)驗(yàn)室天平
其大量程介于60 g至520 g之間,可讀性為0.1 mg,通常用于稱量小樣品。有時(shí),可讀性為0.01 mg或10 µg的實(shí)驗(yàn)室天平也稱為分析天平。為了滿足您的特定應(yīng)用要求,我們提供專門設(shè)計(jì)的稱盤、樣品支架和軟件應(yīng)用程序以簡(jiǎn)化稱量過(guò)程和實(shí)驗(yàn)室工作流程。
仲宇-漢達(dá)森
德國(guó)sartorius分析實(shí)驗(yàn)室天平
為何使用分析天平?
分析實(shí)驗(yàn)室天平是實(shí)驗(yàn)室中使用多的天平。其大量程介于60 g至520 g之間,可讀性為0.1 mg,通常用于稱量小樣品。有時(shí),可讀性為0.01 mg或10 µg的實(shí)驗(yàn)室天平也稱為分析天平。為了滿足您的特定應(yīng)用要求,我們提供專門設(shè)計(jì)的稱盤、樣品支架和軟件應(yīng)用程序以簡(jiǎn)化稱量過(guò)程和實(shí)驗(yàn)室工作流程
產(chǎn)品類型:
Cubis® II分析天平
Cubis® II分析天平
Quintix®分析天平
Entris® II分析天平
Practum®分析天平
分析天平與精密天平
分析天平比精密天平更加精確。分析天平的可讀性為0.1 mg或0.0001 g,而精密天平的可讀性通常為≥1 mg或≥0.001 g。因此,分析天平的可讀性至少是精密天平的10倍。
什么是分析天平?
分析天平是靈敏的實(shí)驗(yàn)室儀器,用于準(zhǔn)確測(cè)量質(zhì)量。其可讀性為0.1 mg。有時(shí)也包括可讀性為0.01 mg的半微量天平。通常,分析天平均配備防風(fēng)罩,以防止稱重過(guò)程受氣流影響。
分析天平的用途是什么?分析天平有哪些應(yīng)用領(lǐng)域?
分析天平不僅具有高測(cè)量精度,且測(cè)量時(shí)間短,僅需幾秒鐘。因此,它們廣泛應(yīng)用于許多實(shí)驗(yàn)室的常規(guī)測(cè)量。例如,用于差重稱量程序、總計(jì)、平均和填料應(yīng)用,或通常用于后續(xù)分析的樣品制備。
為什么分析天平更加準(zhǔn)確?
分析天平的可讀性為0.1 mg,而精密天平的可讀性通常為≥1 mg。因此,分析天平的可讀性至少是精密天平的10倍。
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