您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
Agilent安捷倫N8973A噪聲系數(shù)分析儀
靈活而直觀的用戶界面
新推出的NFA系列噪聲系數(shù)分析儀上的用戶界面既直觀又便于使用，所用按鍵按順序和功能相互分類排列，因而易于查找。專用功能的層數(shù)被盡可能削減，并在屏幕上提供顯示儀器當前狀態(tài)的清晰視覺指示。
簡便的測量設置
如今，NFA系列噪聲系數(shù)分析儀設法用其簡單但富有啟發(fā)性的菜單來取代復雜的測量設置。內置幫助按鍵可以提供關鍵功能和遠程編程命令
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
N8973A
Agilent | N8973A 噪聲系數(shù)測試儀|安捷倫|噪聲系數(shù)分析儀|10MHz至3GHz
品牌:美國安捷倫 Agilent | 美國惠普 HP
詳細介紹
靈活而直觀的用戶界面
簡便的測量設置
低的儀器不確定度
用彩色圖形顯示噪聲系統(tǒng)和增益頻率變化的關系曲線
加強了與PC機和打印機的連通性
能與Agilent346和347噪聲源配用
能經(jīng)軟盤調入儲存噪聲源的超噪聲比（ENR數(shù)據(jù)）
能經(jīng)第二個專用GPIB對本振進行控制
簡便的測量設置
低的儀器不確定度
用彩色圖形顯示噪聲系統(tǒng)和增益頻率變化的關系曲線
加強了與PC機和打印機的連通性
能與Agilent346和347噪聲源配用
能經(jīng)軟盤調入儲存噪聲源的超噪聲比（ENR數(shù)據(jù)）
能經(jīng)第二個專用GPIB對本振進行控制
NFA系列
靈活而直觀的用戶界面
新推出的NFA系列噪聲系數(shù)分析儀上的用戶界面既直觀又便于使用，所用按鍵按順序和功能相互分類排列，因而易于查找。專用功能的層數(shù)被盡可能削減，并在屏幕上提供顯示儀器當前狀態(tài)的清晰視覺指示。
靈活而直觀的用戶界面
新推出的NFA系列噪聲系數(shù)分析儀上的用戶界面既直觀又便于使用，所用按鍵按順序和功能相互分類排列，因而易于查找。專用功能的層數(shù)被盡可能削減，并在屏幕上提供顯示儀器當前狀態(tài)的清晰視覺指示。
簡便的測量設置
如今，NFA系列噪聲系數(shù)分析儀設法用其簡單但富有啟發(fā)性的菜單來取代復雜的測量設置。內置幫助按鍵可以提供關鍵功能和遠程編程命令，從而在進行測量時無需攜帶操作手冊。
如今，NFA系列噪聲系數(shù)分析儀設法用其簡單但富有啟發(fā)性的菜單來取代復雜的測量設置。內置幫助按鍵可以提供關鍵功能和遠程編程命令，從而在進行測量時無需攜帶操作手冊。
常用型號：
頻譜分析儀或頻譜儀
1、按頻率分類：
3G頻譜儀:HP8594E,HP8560E,Agilent E4402B,Agilent E4403B,Agilent N9320A,Agilent N9320B,Agilent N9020A,advantest R3131A,advantest U3741,R&S fsp3,R&S FSL3,R&S FSV3,R&S FSU3
6-8G頻譜儀:HP8595E,HP8561E,Agilent E4404B,Agilent N9020A,Agilent N9010A,advantest R3265,advantest R3267,R&S FSV7,R&S FSP7,R&S FSU8
10G頻譜儀:HP8596E,HP8562E,Agilent E4405B,R&S fsp13,R&S FSV13
高頻頻譜儀:HP8593E,HP8563E,Agilent E4407B,Agilent E4408B,Agilent E4407B,Agilent N9010B,Agilent N9020B,Agilent N9030B,Agilent N9040B,R&S FSW26,R&S FSW67,R&S FSW85,R&S FSW50,R&S FSUP50
低的儀器不確定度
進行噪聲系數(shù)測量時，應當知道的一個關鍵參數(shù)是測量的不確定度。NFA系列噪聲系數(shù)測試儀具有低的儀器不確定度，這有助于制造商對元件進行精確、重復的測量。此外，為了幫助用戶規(guī)定其元件和系統(tǒng)的技術指標，Agilent公司還生產(chǎn)了一種基于網(wǎng)絡的不確定度計算器，可以向用戶提供對他們的測量指標如何改善和更準確地進行分類的信息。 提高批量測量的效率
在制造環(huán)境中，快速測量和重復性是決定性的因素。目前，NFA系列噪聲系數(shù)分析儀具有許多能縮短測量時間和提高批量測量效率的特點。頻率列表功能能使您在進行測量的整個測量頻率間隔內選擇一些特殊的頻率點。掃描取平均功能能夠在掃描期間伴隨著對被測件性能的調整對屏幕進行實時更新，這兩種功能以及進行快速、方便合格/不合格測試的極限線功能和調用全面已校儀器狀態(tài)的附加功能都能提高批量測量的效率。