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| 保修期限 | 6個月 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品成色 | 8成新 | 出廠年份 | 2014 |
| 使用年限 | 7年以上 | 應用領域 | 生物產(chǎn)業(yè),電子,航天,汽車,綜合 |
| 網(wǎng)絡分析儀 | ZVA40 |
線性和非線性放大器和混頻器測量：
對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進行測量 對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進行測量
對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進行測量
° 對放大器進行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進行測量
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
ZVA40
主要特點
臺具有以下特點的矢量網(wǎng)絡分析儀
帶 4 個內(nèi)部信號源，頻率高達 67 GHz，可以快速地對放大器和混頻器進行測量
具有 4 個相位相干信號發(fā)生器功能（頻率可高達 67 GHz）
中頻帶寬可高達 30 MHz，可以實現(xiàn)放大器和混頻器的脈沖測量功能
可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進行相位和群延時測量
可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進行相位和群延時測量
可以對放大器和混頻器進行諧波、壓縮、互調(diào)和 Hot S22測量
實現(xiàn)了無噪聲源噪聲系數(shù)定義的新方法
實現(xiàn)了脈內(nèi)掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡測量
2 個內(nèi)部脈沖發(fā)生器
通過 R&S®ZVAX24，實現(xiàn)了內(nèi)部脈沖調(diào)制器和組合器
嵌入/去嵌入功能通過虛擬網(wǎng)絡實現(xiàn)阻抗匹配
支持真差分測量，可以表現(xiàn)出平衡設備的非線性效應
多功能校準技術：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM 和 AutoCal
ZVA 系列產(chǎn)品屬于優(yōu)異矢量網(wǎng)絡分析儀，多可支持 4 個信號源，可以精準地測量高達 110 GHz 的信號。 需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進行要求的測量時，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)品的頻率范圍大可擴展至 500 GHz。
ZVA 系列產(chǎn)品屬于優(yōu)異矢量網(wǎng)絡分析儀，多可支持 4 個信號源，可以精準地測量高達 110 GHz 的信號。 需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進行要求的測量時，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)品的頻率范圍大可擴展至 500 GHz。
R&S®ZVA 已經(jīng)成為解決絕大多數(shù)**挑戰(zhàn)性應用的里程碑式產(chǎn)品：
臺頻率可高達 67 GHz，并且含兩路內(nèi)部源的矢量網(wǎng)絡分析儀，可以快速地對放大器和混頻器進行測量
線性和非線性放大器和混頻器測量：
對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進行測量
對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進行測量
對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進行測量
對放大器進行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進行測量
脈沖測量：
臺中頻帶寬高達 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡分析儀，用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進行脈沖測量（詳細內(nèi)容請參見“應用"和“選件"）
對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡測量
頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量
臺工作頻率高達 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡分析儀
采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設備
輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關系支持用戶自定義
校準
多功能校準技術：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM
方便、快捷的矢量混頻器校準功能和帶有“未知通路"校準 UOSM的“適配器去除功能"
對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進行測量
對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進行測量
對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進行測量
對放大器進行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進行測量
脈沖測量：
臺中頻帶寬高達 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡分析儀，用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進行脈沖測量（詳細內(nèi)容請參見“應用"和“選件"）
對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡測量
頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量
臺工作頻率高達 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡分析儀
采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設備
輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關系支持用戶自定義
校準
多功能校準技術：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM
方便、快捷的矢量混頻器校準功能和帶有“未知通路"校準 UOSM的“適配器去除功能"
并行測量 — 測量速度比原來快四倍
R&S®ZVA 的發(fā)生器設計，使得每個測試端口都可以同時作為信號源和接收機使用。 因此，可以對測試端口進行分組。 在各個測試端口組上進行的測量任務可以彼此實現(xiàn)同步。 因而，可以并行地測量多個 DUT 或者一個 DUT 的多個通路； 測量時間僅相當于測量一個設備所需要的時間。 因此，同時測量兩個兩端口DUT時，速度將提高一倍；同時測量四個單端口DUT時，速度將是原先的四倍