E5071A
Agilent E5071A 網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071A相關(guān)技術(shù)資料:
·內(nèi)置接口,如GPIB,10/100BaseT以太網(wǎng),USB接口,VGA和平行的,也包括在內(nèi)。
·300 kHz至8.5千兆赫
·一百二十五分貝在測(cè)試端口動(dòng)態(tài)范圍(典型)
·9.6我們/點(diǎn)掃描速度
·0.001分貝有效值跡線噪聲
66、誰(shuí)家秋院無(wú)風(fēng)入?何處秋窗無(wú)雨聲?——曹雪芹
67、岸雨過(guò)城頭,黃鸝上戍樓。——岑參
68、孤煙村際起,歸雁天邊去?!虾迫?/strong>
69、七八個(gè)星天外,兩三點(diǎn)雨山前?!翖壖?/strong>
70、一年好景君須記,最是橙黃橘綠時(shí)?!K軾
71、若教眼底無(wú)離恨,不信人間有白頭?!翖壖?/strong>
72、柳暝河橋,鶯晴臺(tái)苑,短策頻惹春香?!獏俏挠?/strong>
73、擢擢當(dāng)軒竹,青青重歲寒?!獏翁?/strong>
74、善在美的后面,是美的本原?!章宥?/strong>
75、禪邊風(fēng)味客邊愁,饋我清光又滿樓?!哿?/strong>
·綜合2 - ,3 -和4端口全面的端口可校正
·4332320 /量程下限校準(zhǔn)非同軸測(cè)量
·內(nèi)置均衡測(cè)量解釋混合模式S參數(shù)
·Fixtrue嵌入/解嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
Agilent E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071A概要說(shuō)明產(chǎn)品概述和應(yīng)用實(shí)例:
安捷倫Agilent E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了全面的測(cè)量能力測(cè)試都需要多端口和平衡設(shè)備。
Agilent E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071A含計(jì)量證書(shū)
ENA系列提供了2 - ,3 - ,或4對(duì)這些多端口設(shè)備的所有信號(hào)路徑的同步測(cè)量測(cè)試端口。
在ENA系列提供諸如廣泛的時(shí)域分析功能轉(zhuǎn)換與門(mén)和混合模式匹配電路嵌入/ S參數(shù)測(cè)量去嵌入和阻抗轉(zhuǎn)換。
除了內(nèi)置的Microsoft Visual Basic中為應(yīng)用程序(VBA)的能力,分析儀都可通過(guò)其COM或SCPI命令接口。
E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀Agilent E5071A選件(016 1E5 414)
在ENA系列有一個(gè)基于Windows 的用戶界面和大型10.4英寸液晶顯示器。
內(nèi)置接口,如GPIB,10/100BaseT以太網(wǎng),USB接口,VGA和平行的,也包括在內(nèi)。
Agilent E5071A 3G射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀 9kHz-3GHz
* 300 kHz to 8.5 GHz
* 125 dB dynamic range at test port (typical)
* 9.6 μs/point sweep speed
* 0.001 dB rms trace noise
* Integrated 2-, 3- and 4-ports available with full port correction
* TRL/LRL calibration for non-coaxial measurements
* Built-in balanced measurement to interpret mixed mode S-parameters
* Fixtrue embedding/de-embedding and port characteristic impedance conversion
* Time domain transform with gating
* Up to 9 ports extension using E5091A multiport test set
* Bundled Microsoft Visual Basic for Applications
* 10.4-inch color LCD
The Agilent E5071A network analyzer provides the comprehensive measurement capability required to test both multiport and balanced devices. The ENA Series offer 2-, 3-, or 4-test ports for simultaneous measurement of all signal paths in these multiport devices.