E7405A

E7405A|Agilent E7405A EMC分析儀|惠普EMI測(cè)試儀

性能
* 頻率范圍：30Hz至26.5GHz
* 1 Hz至5 MHz（包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW）
* +12.5 dBm TOI
* ≤ -150 dBm
* +45 dBm二次諧波失真（SHI）
* 自動(dòng)EMI測(cè)量
* 對(duì)數(shù)掃描
* 內(nèi)置前置放大器
* 可選跟蹤發(fā)生器
描述
對(duì)您設(shè)計(jì)的 EMI 性能進(jìn)行早期評(píng)估是產(chǎn)品成功的關(guān)鍵。采用 Agilent EMC 預(yù)論證解決方案，您能得到進(jìn)行室內(nèi)預(yù)論證測(cè)試所需要的全部功能特性，包括預(yù)先編程、自動(dòng)測(cè)量、交互式軟件，以及獲得一致和可重復(fù)結(jié)果的自動(dòng)測(cè)量功能。

* 新特性! 對(duì)數(shù)掃描
* 新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬
* 新特性! 在 Intern e t 上遠(yuǎn)程觀(guān)察和控制 E7400A
* 全彩色顯示
* 3.5‘ 磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器
* 自動(dòng) EMI 測(cè)量
* 5 分鐘預(yù)熱
* 內(nèi)置前置放大器
* 堅(jiān)固的便攜式設(shè)計(jì)

E7405A性能

* 頻率范圍：30Hz至26.5GHz
* 1 Hz至5 MHz（包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW） 
* +12.5 dBm TOI 
* ≤ -150 dBm 
* +45 dBm二次諧波失真（SHI） 
* 自動(dòng)EMI測(cè)量
* 對(duì)數(shù)掃描
* 內(nèi)置前置放大器 
* 可選跟蹤發(fā)生器

性能描述:
盡早測(cè)試設(shè)計(jì)的 EMI 性能對(duì)于打造成功的產(chǎn)品至關(guān)重要。E7405A EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀提供了您所需要的功能，使內(nèi)部 EMI 預(yù)先一致性測(cè)試成為可能。

EMC 標(biāo)準(zhǔn)分析儀通過(guò)內(nèi)置更多可以提高生產(chǎn)效率的選件并保證快速交付，為您創(chuàng)造大價(jià)值。

輻射發(fā)射
當(dāng)與寬帶天線(xiàn)配合使用時(shí)，E7405A 能夠檢測(cè)您的被測(cè)件所散發(fā)的輻射發(fā)射。在沒(méi)有反射目標(biāo)的區(qū)域（例如開(kāi)闊地）或 EMI 室內(nèi)，它的表現(xiàn)尤為出眾。

傳導(dǎo)發(fā)射
通過(guò)使用線(xiàn)路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）器件或功率吸收鉗，將 E7405A 儀器與電源線(xiàn)或數(shù)據(jù)線(xiàn)耦合，您可以對(duì)電源線(xiàn)或數(shù)據(jù)線(xiàn)產(chǎn)生的噪聲或受到的干擾信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。

故障診斷和隔離
如果您遇到發(fā)射問(wèn)題，可以使用 E7405A 和近場(chǎng)探頭來(lái)隔離和診斷故障源。

11940A 近場(chǎng)探頭，30 MHz 至 1 GHz

11941A 近場(chǎng)探頭，9 kHz 至 30 MHz
* 新特性! 對(duì)數(shù)掃描 
* 新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬 
* 新特性! 在 Internet 上遠(yuǎn)程觀(guān)察和控制 E7400A 
* 全彩色顯示 
* 3.5' 磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器 
* 自動(dòng) EMI 測(cè)量 
* 5 分鐘預(yù)熱 
* 內(nèi)置前置放大器 
* 堅(jiān)固的便攜式設(shè)計(jì)
選件:
11941A 11941A 近場(chǎng)探頭，9 kHz ～ 30 MHz
Agilent 11941A 手持式探頭專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量表面電流的磁場(chǎng)輻射。