產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,印刷包裝,汽車,綜合 |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
珀泰便攜式超聲波探傷儀維修 探傷儀主要適用于哪些工件的檢測1檢測適用于檢測鐵磁性資料工件外表和外表尺寸很小,間隙狹窄(如可檢測出長0.1mm寬為微米級)裂紋和目視難以看出的缺陷,2適用于檢測馬氏體不銹鋼和沉淀硬化不銹鋼資料,但不適用于檢測奧氏體不銹鋼資料(如1Cr18Ni9和用奧氏體不銹鋼焊條焊接的焊縫探傷儀用戶應(yīng)為產(chǎn)品進(jìn)行基本的維護(hù)一些探傷儀維修保養(yǎng)、常見故障排除方法有助于維持良好的儀器物理性能和工況。基于探傷儀產(chǎn)品的設(shè)計(jì),檢測儀它只需要最基本的維護(hù)。如果基本的方法無法排除故障則需要送到專業(yè)的探傷儀維修點(diǎn)由專業(yè)的維修工程師處理。
。探傷儀故障現(xiàn)象及維修方法
1、12V供電電池電壓低于10.5V,電池充電即可;
2、大部分的無法開機(jī)主要是薄膜面板的電源開關(guān)鍵失去作用引起的,只要更換薄膜面板故障就可以消除;
3、電流大造成,這主要是電源電路中的高壓電容C25、C29、C30擊穿,或者V109、V110振蕩管損壞短路引起;
4、開機(jī)電路中的繼電器無法吸合;
5、電解電容C132漏電,造成開機(jī)繼電器無法吸合;
6、硬關(guān)機(jī)電路中的HC123集成壞造成P.OFF始終處于低電平,儀器始終處于硬關(guān)機(jī)狀態(tài);
7、4NIC-DC10模塊沒有沒有輸出;
8、集成CD4011或者開關(guān)三極管3904壞造成開機(jī)繼電器無法動作。 。
當(dāng)對一種材料進(jìn)行渦流探傷時,須要根據(jù)材質(zhì)、表面狀態(tài)、檢測標(biāo)準(zhǔn)作綜合考慮,然后再確定無損檢測方案與技術(shù)參數(shù)。 包括鐵磁性和非鐵磁性金屬材料構(gòu)件的缺陷檢測,由于渦流探傷,在檢測時不要求線圈與構(gòu)件緊密接觸,也不用在線圈與構(gòu)件間充滿藕合劑,容易實(shí)現(xiàn)檢驗(yàn)自動化,渦流探傷儀以其的性能廣泛應(yīng)用在棒材,管材領(lǐng)域,[標(biāo)簽:標(biāo)題]彈簧鋼絲渦流探傷儀在線檢測一般使用兩種方法:一種是旋轉(zhuǎn)探測式。
凌科可維修探傷儀常見故障:開機(jī)無顯示、花屏、顯示亂碼、數(shù)據(jù)丟失、始波異常、檢波異常、不定時死機(jī)、萬能旋鈕失靈、無回波、自動開機(jī)、探頭磨損、數(shù)據(jù)不能保存、花屏、死機(jī)、鍵盤操作失靈等故障
。如果對探傷儀修理完畢,需對儀器的探傷靈敏度余量、水平線性誤差、垂直線性誤差、動態(tài)范圍等幾個主要性能指標(biāo)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn),以確保儀器正常工作和檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。
當(dāng)導(dǎo)體中的某些因素發(fā)生變化時,如出現(xiàn)缺陷、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、形狀、尺寸等變化,將影響到導(dǎo)體中的渦流的強(qiáng)度和分布,渦流的變化又引起了線圈感應(yīng)電壓的變化,通過測定線圈電壓的變化就可判知導(dǎo)體的性質(zhì)狀態(tài)及有無缺陷的情況。 按照手動操作程序調(diào)節(jié)磁化電流大小(按操作說明書I=10D-12D,調(diào)節(jié)相對應(yīng)的電流電位器),三.確定工作方式按鈕處于自動狀態(tài),放上工件,按啟動按鈕進(jìn)行磁化工作,注意觀察工件是否存在裂紋,四.等機(jī)臺工件完畢后。
。珀泰便攜式超聲波探傷儀維修,轉(zhuǎn)載請注明轉(zhuǎn)載自:宏旭探傷機(jī)制造有限公司全封閉熒光探傷機(jī)圖示推合空開,打開氣源,并檢查設(shè)備上的氣動三聯(lián)件氣壓應(yīng)達(dá)到0.4-0.6MP。 產(chǎn)生非常強(qiáng)的附加磁場,它的磁導(dǎo)率很高,相對磁導(dǎo)率可以達(dá)到數(shù)百甚至數(shù)千,②磁飽和性鐵磁性材料由于磁化所產(chǎn)生的附加磁場,不會隨外加磁場而無限地增加,當(dāng)外加磁場達(dá)到一定程度后,全部磁疇的方向都與外加磁場的方向一致。 不僅影響有效磁導(dǎo)率(分析參見電導(dǎo)率分析),而且影響填充系數(shù),因此,試件幾何尺寸對試驗(yàn)線圈阻抗的影響是雙重的,渦流探傷缺陷:缺陷對試驗(yàn)線圈阻抗的影響可以看作是電導(dǎo)率,幾何尺寸兩個參數(shù)影響的綜合結(jié)果,由于試件中裂紋位置。bgcsavgcdgad