目錄:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>XRF光譜儀>>熒光光譜儀>> EDX9000B PLUS食品重金屬分析光譜儀
參考價(jià) | 面議 |
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-10-30 09:17:42瀏覽次數(shù):988評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 食品 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,地礦,冶金,綜合 |
EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer
能量色散X熒光光譜儀
礦產(chǎn)礦石專用分析儀
Simply the Best
>*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器
>真空光路配備薄膜濾光片技術(shù),提高輕元素檢出限
>可同時(shí)分析40種元素
>可分析固體,液體,粉末和泥漿
>進(jìn)口X光管管芯提供可靠的樣品激發(fā)性能
>無(wú)損檢測(cè),快速分析(1-2分鐘出結(jié)果)
>無(wú)需化學(xué)試劑,無(wú)耗材,更環(huán)保,更高效
EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家
ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,
生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究,考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動(dòng)態(tài)范圍,可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過(guò)程控制和質(zhì)量控制。
具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測(cè)器,對(duì)輕、中、重元素和常見氧化物(Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等)都可達(dá)到最佳分析效果。
EDX9000B plus優(yōu)秀的分析性能,使其可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試:
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)
銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)
鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)
鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)
鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)
鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)
鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)
鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)
鋁土礦
其它礦類
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析
2.可同時(shí)分析40種元素
3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限
礦產(chǎn)元素檢測(cè)專家EDX9000B Plus
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大樣品腔:465mm*330mm*110mm |
半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 48Kg |
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測(cè)器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測(cè)器 |
探測(cè)器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV |
處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器 |
譜總通道數(shù):4096道 |
X光管:高功率50瓦光管(進(jìn)口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻 |
光管窗口材料:鈹窗 |
準(zhǔn)直器:多達(dá)8種選擇,最小0.2mm |
濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換 |
高壓發(fā)生裝置:原裝美國(guó)高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA |
高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過(guò)載保護(hù),輸出精度:0.01% |
樣品觀察系統(tǒng):500萬(wàn)像素高清CCD攝像頭 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標(biāo)準(zhǔn)配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標(biāo)樣 | 磨樣機(jī) |
真空泵 | 壓片機(jī) |
礦石專用樣品杯 | 烘干箱 |
USB數(shù)據(jù)線 | ESI-900型XRF專用全自動(dòng)熔樣機(jī) |
電源線 | 電子秤 |
測(cè)試薄膜 | 礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) |
儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
保修卡 | 150目篩子 |
全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。
*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量
*對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正,即基體效應(yīng),增強(qiáng)和吸收的校正。
*譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖
*可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。
*可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對(duì)于包含大量低Z材料的樣品)或通過(guò)簡(jiǎn)單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析。
*基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn),多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的樣品
*提供多種數(shù)據(jù)訪問(wèn)接口,可兼容LIMS實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)
鋁土礦樣品10次連續(xù)測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告
測(cè)量次數(shù) | MgO | Al2O3 | SiO2 | P2O5 | K2O | CaO | TiO2 | MnO | Fe2O3 | Pb |
鋁土礦-1 | 0.1054 | 75.2553 | 9.9633 | 0.189 | 0.1709 | 0.2083 | 3.5535 | 0.0401 | 10.311 | 0.006 |
鋁土礦-2 | 0.1049 | 75.2001 | 10.0606 | 0.1927 | 0.1662 | 0.2035 | 3.5657 | 0.0421 | 10.3259 | 0.0058 |
鋁土礦-3 | 0.1031 | 75.2126 | 10.0301 | 0.188 | 0.1617 | 0.2049 | 3.536 | 0.0404 | 10.257 | 0.0062 |
鋁土礦-4 | 0.0998 | 75.2123 | 10.0481 | 0.1937 | 0.1651 | 0.2071 | 3.5573 | 0.0444 | 10.3338 | 0.0061 |
鋁土礦-5 | 0.1075 | 75.2657 | 10.0629 | 0.1949 | 0.1654 | 0.2193 | 3.5481 | 0.0415 | 10.2885 | 0.0062 |
鋁土礦-6 | 0.1058 | 75.1657 | 10.0627 | 0.1988 | 0.1724 | 0.2206 | 3.5542 | 0.0404 | 10.321 | 0.0062 |
鋁土礦-7 | 0.1007 | 75.1966 | 10.0811 | 0.1928 | 0.1725 | 0.2199 | 3.5694 | 0.0438 | 10.334 | 0.0062 |
鋁土礦-8 | 0.1008 | 75.2769 | 10.0104 | 0.1947 | 0.1663 | 0.2185 | 3.5289 | 0.0406 | 10.2942 | 0.0059 |
鋁土礦-9 | 0.1057 | 75.2524 | 10.0968 | 0.1929 | 0.161 | 0.214 | 3.5483 | 0.0412 | 10.3395 | 0.006 |
鋁土礦-10 | 0.1049 | 75.2344 | 10.0828 | 0.1918 | 0.1635 | 0.2212 | 3.5648 | 0.0423 | 10.3411 | 0.0062 |
平均值 | 0.104 | 75.227 | 10.050 | 0.193 | 0.167 | 0.214 | 3.553 | 0.042 | 10.315 | 0.006 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0026 | 0.0355 | 0.0397 | 0.0030 | 0.0042 | 0.0071 | 0.0129 | 0.0015 | 0.0272 | 0.0001 |
相對(duì)標(biāo) | 2.51% | 0.05% | 0.39% | 1.58% | 2.50% | 3.31% | 0.36% | 3.55% | 0.26% | 2.43% |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)