目錄:蘇州英飛思科學儀器有限公司>>XRF光譜儀>> EDX-9000B PLUS XRF Spectr礦產(chǎn)礦石專用分析儀
價格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
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儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,石油,地礦,電子,綜合 |
EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer礦產(chǎn)礦石專用分析儀
礦產(chǎn)礦石專用分析儀
Simply the Best
>*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器
>真空光路配備薄膜濾光片技術(shù),提高輕元素檢出限
>可同時分析40種元素
>可分析固體,液體,粉末和泥漿
>yuan裝進口X光管管芯提供可靠zhuo越樣品激發(fā)性能
>無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結(jié)果)
>無需化學試劑,無耗材,更環(huán)保,更高效
EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家
ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,
生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術(shù)研究,考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍,可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。
具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物(Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等)都可達到最佳分析效果。
EDX9000B pluszhuo越的分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試:
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)
銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)
鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)
鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)
鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)
鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)
鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)
鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)
鋁土礦
其它礦類
產(chǎn)品特點
1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景zhuan利技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設計,雙真空抽速機構(gòu),真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標配基本參數(shù)法軟件,多任務,多窗口操作
7.zhuan利薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限
礦產(chǎn)元素檢測專家EDX9000B Plus
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大樣品腔:465mm*330mm*110mm |
半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 48Kg |
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器 |
探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV |
處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器 |
譜總通道數(shù):4096道 |
X光管:高功率50瓦光管(yuan裝進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻 |
光管窗口材料:鈹窗 |
準直器:多達8種選擇,最小0.2mm |
濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換 |
高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA |
高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01% |
樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標準配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標樣 | 磨樣機 |
真空泵 | 壓片機 |
礦石專用樣品杯 | 烘干箱 |
USB數(shù)據(jù)線 | ESI-900型XRF專用全自動熔樣機 |
電源線 | 電子秤 |
測試薄膜 | 礦石標準物質(zhì) |
儀器出廠和標定報告 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
保修卡 | 150目篩子 |
全新設計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。
*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量
*對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質(zhì)效應,增強和吸收。
*譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖
*可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數(shù)。
*可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。
*基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。
鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告
樣品 | 氧化鎂 | 三氧化二鋁 | 二氧化硅 | 氧化鉀 | 氧化鈣 | 二氧化鈦 | 氧化錳 | 三氧化二鐵 |
Sample-1 | 0.438 | 84.577 | 8.754 | 0.196 | 0.502 | 3.753 | 0.049 | 1.966 |
Sample-2 | 0.442 | 84.853 | 8.88 | 0.197 | 0.522 | 3.799 | 0.052 | 1.962 |
Sample-3 | 0.424 | 84.508 | 8.81 | 0.197 | 0.509 | 3.852 | 0.051 | 1.983 |
Sample-4 | 0.427 | 84.537 | 8.636 | 0.196 | 0.513 | 3.777 | 0.051 | 1.963 |
Sample-5 | 0.424 | 84.501 | 8.709 | 0.197 | 0.503 | 3.791 | 0.05 | 1.973 |
Sample-6 | 0.415 | 84.496 | 8.737 | 0.2 | 0.513 | 3.861 | 0.051 | 2.013 |
Sample-7 | 0.45 | 84.818 | 8.917 | 0.197 | 0.511 | 3.854 | 0.051 | 1.966 |
Sample-8 | 0.423 | 84.577 | 8.689 | 0.201 | 0.501 | 3.838 | 0.05 | 1.971 |
Sample-9 | 0.447 | 84.381 | 8.74 | 0.199 | 0.495 | 3.853 | 0.05 | 1.971 |
Sample-10 | 0.453 | 84.753 | 8.893 | 0.201 | 0.517 | 3.793 | 0.052 | 1.981 |
Average 平均值 | 0.434 | 84.6 | 8.776 | 0.198 | 0.509 | 3.817 | 0.051 | 1.975 |
Standard Deviation | 0.013 | 0.155 | 0.094 | 0.002 | 0.008 | 0.039 | 0.001 | 0.015 |
RSD | 3.10% | 0.18% | 1.08% | 0.97% | 1.63% | 1.02% | 1.91% | 0.76% |