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          JSM-IT200-掃描電子顯微鏡
          • JSM-IT200-掃描電子顯微鏡
          舉報

          貨物所在地:浙江杭州市

          地: 日本

          更新時間:2024-09-13 21:00:06

          瀏覽次數(shù):485

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          ( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

          JSM-IT200掃描電子顯微鏡,是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉(zhuǎn)換成電訊號,經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極,調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu),可測樣品:土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品,

           JSM-IT200掃描電子顯微鏡

          主窗口 Z e r o m a g 觀察ー

          使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學(xué)C C D 圖像 *1 ,能尋找視野和定位 分析位置。

          顯示譜圖和顯示元素 顯示譜圖和顯示元素 Live Analysis 分析 *2

          通過顯示譜圖和顯示元素,能確認(rèn)正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。

          數(shù)據(jù)管理圖標(biāo) 數(shù)據(jù)管理圖標(biāo) SMILE VIEW

          T M

          L a b 數(shù)據(jù)集中管理ー按下數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)并顯示數(shù)據(jù)管理窗口后,從 S E M 圖像到分析,對全部數(shù)據(jù)能創(chuàng)建批量報告、

          查看數(shù)據(jù)并重新分析數(shù)據(jù)。

          J S M - I T 2 0 0 在完成樣品交換的同時,開始觀察需要的視野。

          按照導(dǎo)航流程操作,也可以安全、方便、可靠地交換樣品。

          樣品交換導(dǎo)航

          樣品交換導(dǎo)航是從打開樣品室到開始觀察過程中進(jìn)行導(dǎo)航的功能。

          Zeromag

          只需擴(kuò)大光學(xué)圖像,就可以過渡到 S E M 圖像

          Z e r o m a g 功能將與樣品臺位置關(guān)聯(lián)的樣品架示意圖、C C D 圖像 * (光學(xué)圖像)和S E M 圖像實現(xiàn)了聯(lián)動??梢灾庇^地尋找分析區(qū)域,只需放大光學(xué)圖像就可以過渡到S E M 圖像,因而能防止弄錯觀察目標(biāo)和樣品。

          Zeromag 的特長

          ?能象用光鏡一樣直觀地移動視野

          ?可以預(yù)約多個分析區(qū)域的測試

          ?可以輕松回溯到已測試完的區(qū)域

          Live Analysis

          S E M 觀察過程中始終顯示元素分析結(jié)果

          利用Live A n a ly s i s 功能,可以不必再分別考慮S E M 觀察和E D S 分析。在觀察窗口上可以隨時顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征X射線譜圖和自動定性的主要構(gòu)成元素名稱,還可以發(fā)現(xiàn)感興趣的元素和一些意想不到的元素。

          Live Analysis 的特長

          ?始終顯示特征X射線譜圖

          ?通過顯示樣品的主要構(gòu)成元素幫助發(fā)現(xiàn)意想不到的元素。

          ?對感興趣元素的標(biāo)注“Alert”

          利用SEM觀察窗口上配置的全域/區(qū)域面分布圖圖標(biāo)能獲取整個觀察區(qū)域或需要區(qū)域的元素面分布圖。

          可利用數(shù)據(jù)管理軟件 SMILE VIEWTM Lab 對采集的數(shù)據(jù)(如用譜圖、元素面分布圖、線分析對元素的再定位等)進(jìn)行各種分析。

          實時 凈計數(shù)面分布圖/定量面分布圖

          對每個像素點的譜峰進(jìn)行分離,顯示消除了臨近峰影響的元素面分布圖。對凈計數(shù)面分布圖進(jìn)一步校正計算,還有用定量值顯示的定量面分布圖。

          強度面分布圖和凈計數(shù)面分布圖

          Pb-Mα (2.342 keV)的譜峰 Bi-Mα (2.419 keV) 的譜峰很接近,在強度面分布圖中很難把BiPb的峰*分開。通過顯示凈計數(shù)面分布圖,可以確認(rèn)Bi元素原有的分布。

          JSM-IT200掃描電子顯微鏡技術(shù)規(guī)格

          設(shè)備型號

          IT200

          基本性能

          二次電子像分辨率

          3 nm (30 kV, 高真空)

          8 nm (3 kV, 高真空)

          15 nm (1 kV, 高真空)

          背散射電子像分辨率

          4.0 nm (30 kV, 高真空)

          加速電壓

          0.5 to 30kV

          放大倍數(shù)

          5x to 300,000x

          EDS 分析

          電制冷方式Dry SDD extra detector (不用液氮)

          EDS 分析位置: WD 10 mm, 取出角 35

          電子光學(xué)系統(tǒng)

          電子槍

          工廠預(yù)對中燈絲

          電子槍偏壓

          無縫式自偏壓

          聚光鏡

          可變焦聚光鏡

          物鏡

          超級圓錐形物鏡

          物鏡光闌

          3段式可動(XY軸微調(diào))

          像散存儲器

          內(nèi)置

          圖像移動

          ±50μmWD 10 mm

          探測器

          二次電子探測器

          高靈敏度半導(dǎo)體型背散射電子探測器

          自動化功能

          自動燈絲加熱

          內(nèi)置

          自動槍對中

          內(nèi)置

          自動聚焦

          內(nèi)置

          自動消像散

          內(nèi)置

          自動亮度和對比度調(diào)整

          內(nèi)置

          樣品室

          *樣品尺寸

          150 mm (直徑)

          可支持的選購附件

          EDS, WDS, EBSD, CLD, SHIC, SCU, Raman

          樣品臺

          X

          0 ~ 80 mm

          Y

          0 ~ 40 mm

          Z

          5 ~ 48 mm

          R

          360

          T

          -10 ~ 90

          *視野范圍

          127 mm (直徑)

          *樣品高度

          48 mm

          馬達(dá)驅(qū)動

          2 (X, Y)

          圖像顯示系統(tǒng)

          PC?OS

          Windows®10

          顯示器

          24” LCD

          圖像存儲像素

          320x240, 640x480, 1280x960, 2560x1920, 5120x3840 pixels

          圖像保存格式

          Format: BMP, TIFF, JPEG

          操作系統(tǒng)

          操作導(dǎo)航器

           

          位于顯示屏下端的操作導(dǎo)航器可控制以下功能:用戶管理, 樣品交換, 菜單, 成像, 打印, 參數(shù)設(shè)定, 維護(hù)

          測量功能

          平行線間距測量

          垂直, 水平, 對角

          2點之間距離測量

          任意2點間距離

          圓的測量

          直徑, 2個圓中心間距離

          角度測量

          角度

          面積測量

          圓和多角形

          計數(shù)

          顆粒統(tǒng)計

          真空系統(tǒng)

          類型

          全自動抽真空系統(tǒng)

          油擴(kuò)散泵

          420 /

          機(jī)械泵

          100 /: 1 (6510/A), 2 (6510LV/LA)

          外觀

          基本單元尺寸

          750 mm () x 1,000 mm () x 1,445 mm ()

          基本單元重量

          325 公斤

          安裝要求

          室溫

          20 ± 5

          濕度:

          低于60%

          供電

          單相 AC100 V, 50/60 Hz, 3 kVA

           

          E DS 適用于AAnalysis)和LALow V a c u u m &Analysis)配置。

          主要技術(shù)規(guī)格

           

           

          Basic(標(biāo)配)

          Standard

          SEM 集成化

          SEM 控制軟件內(nèi)置

          觀察/分析數(shù)據(jù)的集中管理

          SEM 操作窗口上定位分析位置(從SEM GUI上直接分析)

          分析位置的圖形顯示

          檢測器

          SDD 類型

          參照檢測器列表

          譜圖分析

          定性分析(譜峰鑒別、自動定性)

          Visual Peak ID

          無標(biāo)樣定量分析(ZAF 法)

          標(biāo)樣定量分析(ZAF 法) *4

           

          PHI-RHO-Z(PRZ) 法定量校正法

          線分析

          線分析(水平、任意方向

          元素面分布圖

          元素面分布圖(多色顯示、單色顯示、多色合成

          *分辨率 4 , 0 9 6 × 3 , 0 7 2

          實時彈出譜

          譜峰分離圖 (凈計數(shù)面分布圖、定量面分布圖)

          實時凈計數(shù)面分布圖

          實時過濾器

          濃度分布曲線

          電子束追蹤

          連續(xù)分析

          譜圖分析、線分析、元素面分布

          測試完的數(shù)據(jù)的統(tǒng)一分析(定性、定量)

          蒙太奇功能

          自動制作蒙太奇(SEM 圖像、元素面分布圖)

          多區(qū)域連續(xù)元素面分布圖

          顆粒度分析軟件

          顆粒度分析 (自動 / 手動)&EDS 分析

          顆粒度分析數(shù)據(jù)的分類功能

          圖形顯示顆粒度分析數(shù)據(jù)的統(tǒng)計處理

          大區(qū)域的連續(xù)顆粒度分析 EDS 分析

          樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)上設(shè)定測試范圍

          數(shù)據(jù)管理功能和生成報告

          SMILE VIEW TM Lab

          幫助功能

          幫助導(dǎo)航

          離線功能

          與設(shè)備主機(jī)獨立的PC 上可以解析數(shù)據(jù)的離線軟件

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