掃描電遷移率粒徑譜儀是納米顆粒測(cè)量系統(tǒng),可測(cè)量氣溶膠粒徑分布,不僅能夠提供準(zhǔn)確可靠的粒徑分析和計(jì)數(shù)功能,而且高達(dá)256原始通道能夠?qū)崿F(xiàn)高粒徑分辨率。多組合滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求;桌面式簡(jiǎn)便操作,易上手;連接方便,可靈活搭載各種預(yù)處理裝置;開放式數(shù)據(jù)文件,讀取和分析便捷;可實(shí)現(xiàn)自檢測(cè)和校準(zhǔn);*兼容性和靈活性,可以跟市場(chǎng)主流計(jì)數(shù)器兼容等。
掃描電遷移率粒徑譜儀的主要優(yōu)點(diǎn)有:
快速結(jié)果:在60s甚至更短的時(shí)間內(nèi)完成顆粒物粒徑分布的掃描;
高分辨的數(shù)據(jù):掃描是連續(xù)的,因此在數(shù)據(jù)分布上不存在間隙??倻y(cè)量通過為162個(gè),每十進(jìn)范圍64個(gè)通道,SMPS系統(tǒng)可為任何超細(xì)微粒粒徑測(cè)定提供較高的準(zhǔn)確度。
寬的粒徑范圍:應(yīng)用多樣性的3080系列靜電分級(jí)器和凝聚粒子計(jì)數(shù)器,可提供顆粒物粒徑測(cè)量。
寬的濃度范圍:可在范圍之間進(jìn)行濃度掃描。
操作簡(jiǎn)單:靜電分級(jí)器配有內(nèi)置前通道面板和控制把手,允許用戶通過快速設(shè)定進(jìn)行掃描,并監(jiān)測(cè)或控制儀器功能。
可提供兩種版本。長(zhǎng)分類柱可以確定8至1200nm的粒徑分布。該系列已經(jīng)集成了X射線源作為中和器,代替放射性中和器,優(yōu)點(diǎn)是在運(yùn)輸過程中無需遵循針對(duì)放射源的要求。
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示:可在Windows操作系統(tǒng)下工作,操作簡(jiǎn)單,并可實(shí)時(shí)顯示各種圖形、表格和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
系統(tǒng)包括一個(gè)分類器,可根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應(yīng)的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計(jì)數(shù)器對(duì)這些顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)。三種可用的可在各種濃度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)較佳的單顆粒計(jì)數(shù)。使用了開發(fā)的演算算法,將測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為U-SMPS的顆粒分布。