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堀場X射線熒光分析儀
型號MESA-50K
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
堀場X射線熒光分析儀
型號MESA-50K
為了滿足 RoHS/ELV 測試和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。后續(xù)HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀，后續(xù)MESA-50系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無需液氮的精密檢測器，As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。
應(yīng)用：
對涂層進行無損的厚度和成分分析、固體廢物管理和修復服務(wù)中的固體廢物燃燒器和焚化爐、電子行業(yè)的顯微XRF 分析、鉛污染的玩具分析
特點
1. 快速
硅漂移檢測器(SDD) 大幅度減少了測量時間，在高通量的同時提供了更高的靈敏度
2. 小巧
便攜、體積小、重量輕
內(nèi)部電池供電
3. 簡單
減少日常維護工作（無需液氮）
無需真空泵
各種材料測量直觀簡單
4. 智能
英文/日文/中文多語言操作界面
Excel數(shù)據(jù)管理工具
5. 安全
無需擔心 X 射線泄漏
堀場X射線熒光分析儀
技術(shù)參數(shù)
基礎(chǔ)項 | 原理 | 能量分散性X射線熒光光譜 |
目標應(yīng)用 | RoHS, ELV, Halogen Free | |
測量元素 | 13Al - 92U | |
樣品類型 | 固體, 液體, 粉末 | |
X-ray 發(fā)生器 | X-ray管 | Max 50kV, 0.2mA |
X-ray輻射尺寸 | 1.2mm, 3mm, 7mm (自動切換) | |
X-ray初級過濾器 | 4 types (自動切換) | |
檢測器 | 類型 | SDD (Silicon Drift Detector) |
信號處理器 | 數(shù)字脈沖處理器 | |
樣品倉 | 大氣環(huán)境 | 空氣 |
樣品觀察 | CCD相機 | |
樣品倉尺寸 | 460 x 360 x 150 mm [W x D x H] | |
應(yīng)用 | 操作 | PC (Windows® 7) |
電源 | 100-240V, 50/60Hz | |
儀器尺寸 | 590 x 590 x 400 mm [W x D x H] | |
重量 | 60 kg | |
軟件 | 分析功能 | 多層膜FPM法（可選） Sb/As分析（可選） |
＊Windows是微軟公司的注冊商標.