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判定日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器性能的三個重要指標(biāo)
日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器具有高輻照度、大尺寸光斑、均勻性和穩(wěn)定性良好、長時間持續(xù)工作等優(yōu)勢，各項技術(shù)指標(biāo)均處于國內(nèi)水平。太陽模擬器的投入使用，有效提高了真空環(huán)境下目標(biāo)的測量范圍和測量精度，對我國模擬測量工作具有重要意義。
太陽光模擬器由光源、儲能供電電路、觸發(fā)電路、電子負(fù)載、采集電路以及計算機(jī)等模塊組成，在整個太陽模擬器中，其中的關(guān)鍵部件可以分成六個模塊，它們是：光源，儲能供電模塊，濾光系統(tǒng)，勻光系統(tǒng)，電子負(fù)載，軟件系統(tǒng)。
判定日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器性能的三個重要指標(biāo)。
1. 光譜匹配度
光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個光譜范圍內(nèi)與真實太陽光的匹配程度，用百分比來表示。根據(jù)數(shù)據(jù)的偏離情況對模擬器匹配程度的等級進(jìn)行劃分。
2. 輻照空間均勻性
在一定測試區(qū)域的輻照度應(yīng)達(dá)到一定的均勻度要求。計算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。
光照均勻性是難達(dá)到和保持的一項指標(biāo)，工作面積上的強(qiáng)光點會導(dǎo)致被測電池效率產(chǎn)生嚴(yán)重誤差，并導(dǎo)致電池分級錯誤。均勻度*的模擬器就能將這種強(qiáng)光點對產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴(yán)格控制于≤2%。
3. 輻照時間穩(wěn)定性
輻照穩(wěn)定性是AA*標(biāo)準(zhǔn)的第三項性能參數(shù)指標(biāo)，它要求日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性。對于輻照不穩(wěn)定性，還細(xì)分為長期不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI），分別對應(yīng)整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。