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SpecMetrix® 增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)

增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)為離線和在線涂層測(cè)試提供非接觸式、非破壞性和實(shí)時(shí)厚度測(cè)量。

由SpecMetrix提供，工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測(cè)試品牌，致力于創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量。

SpecMetrix®增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)為用戶提供高標(biāo)準(zhǔn)的非接觸、非破壞性和實(shí)時(shí)的絕對(duì)厚度測(cè)量數(shù)據(jù)，適用于已應(yīng)用的涂層和涂覆層。

簡化質(zhì)量控制流程 – 適用于離線和在線！

SpecMetix®增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)旨在簡化質(zhì)量控制流程，無論是在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中的離線樣品測(cè)試，還是與周期性在線涂層驗(yàn)證結(jié)合使用。它能夠幫助用戶防止成千上萬英尺的有缺陷材料，節(jié)省時(shí)間和成本。

· 離線測(cè)量：可通過單點(diǎn)和掃描模式進(jìn)行。

· 周期性在線測(cè)量：通過使用帶有堅(jiān)固探頭的磁性臂進(jìn)行。

SpecMetrix增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)通過提高對(duì)多種基材的檢查，優(yōu)化了涂層工藝和質(zhì)量控制，非常適合試驗(yàn)線、測(cè)試設(shè)施和頻繁換型的環(huán)境。它是多個(gè)行業(yè)的質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線中信賴的系統(tǒng)之一，提供亞微米級(jí)精度的絕對(duì)涂層厚度數(shù)據(jù)。

多功能測(cè)量能力

SpecMetrix®增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)是一個(gè)極其多功能的系統(tǒng)，允許用戶測(cè)量幾乎任何涂層或涂覆層。

· 濕涂層或干涂層

· 清晰、著色或有色涂層

· 適用于任何基材的涂層，幾乎適用于任何行業(yè)，包括柔性包裝、汽車、工業(yè)和金屬包裝

· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量單層或雙層涂層，或多層膜層，精度達(dá)到亞微米級(jí)

· 模塊化設(shè)計(jì)，具備從離線質(zhì)量控制測(cè)試到部分在線測(cè)量的即時(shí)測(cè)量能力

· 系統(tǒng)可全面升級(jí)為全在線系統(tǒng)，用于連續(xù)在線使用

按需配置

SpecMetrix增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)相較于其他實(shí)驗(yàn)室工具具有顯著優(yōu)勢(shì)。該系統(tǒng)配備一個(gè)堅(jiān)固的探頭，可輕松安裝在任何涂布機(jī)或復(fù)合機(jī)上，并配有SpecMetrix在線測(cè)量軟件，結(jié)合了實(shí)時(shí)離線質(zhì)量控制樣品測(cè)試的優(yōu)勢(shì)以及在試驗(yàn)線或涂層線上快速設(shè)置和質(zhì)量檢查。

模塊化設(shè)計(jì)使得重新配置變得簡單。該系統(tǒng)可以全面升級(jí)為全在線系統(tǒng)配置，適用于連續(xù)在線使用。

完整的涂層洞察

憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù)，用戶可以獲得樣品的完整涂層測(cè)量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)將允許您通過非接觸和非破壞性手段獲得涂層測(cè)量。

該技術(shù)也很安全——無放射性和無侵入性。我們的光學(xué)技術(shù)高度*，并在整個(gè)涂層行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。

強(qiáng)大的SensorMetric軟件

作為測(cè)量分析的核心部分，我們用戶友好的軟件包將所有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到Excel®中，或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口，以便在生產(chǎn)運(yùn)行期間或之后進(jìn)行SPC分析。

功能和優(yōu)點(diǎn)

· 靈活快速 – 模塊化設(shè)計(jì)使得離線或部分在線測(cè)量使用更快。

· 非接觸式 – 測(cè)量過程中不接觸涂層或基材，保持樣品和部件的完整性。

· 絕對(duì)厚度測(cè)量 – 超高精度的實(shí)時(shí)涂層和層厚度測(cè)量，加速樣品測(cè)試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。

· 基材獨(dú)立 – 可測(cè)量涂覆的部件及應(yīng)用在透明、有色或著色基材上的涂層。

· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量單層或雙層涂層以及多層膜，精度達(dá)到亞微米級(jí)，適用于濕涂層或干涂層。

· 無危害性 – 采用非放射性和非侵入性ROI光學(xué)測(cè)量技術(shù)。

· 環(huán)保 – 非破壞性測(cè)試方法有助于減少廢料、返工勞動(dòng)力和能源成本。

· 強(qiáng)大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包將所有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到Excel®中，或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口，以便進(jìn)行SPC分析。

規(guī)格

應(yīng)用： 光學(xué)測(cè)試, 油墨與涂料, 涂層檢測(cè), 涂層測(cè)試

材料： 油墨和涂料

測(cè)量范圍:   0.3至250微米（涂層厚度）

精度:   涂層厚度的±1%（標(biāo)稱值）

測(cè)量速度:   每秒最多100次

溫度范圍:   0°至45°C

輸出指標(biāo):   微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令

操作系統(tǒng):   Windows®平臺(tái)

制造:   美國制造

認(rèn)證:   CE認(rèn)證、UL認(rèn)證和CSA認(rèn)證

系統(tǒng)組件:   處理單元、觸摸屏控制、操作員輸入鍵盤、樣品測(cè)試臺(tái)和固定器、光學(xué)探頭組件、實(shí)驗(yàn)室探頭、堅(jiān)固的在線探頭、磁性臂和安裝套件、NIST可追溯的厚度標(biāo)準(zhǔn)