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          行業(yè)產(chǎn)品

          18017867020
          當(dāng)前位置:
          上海艾飛思精密儀器有限公司>>商機(jī)中心>>供應(yīng)列表>>Zeta100電位納米粒度分子量分析儀
          [供應(yīng)]Zeta100電位納米粒度分子量分析儀
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          • Zeta100電位納米粒度分子量分析儀
          貨物所在地:
          上海上海市
          更新時間:
          2024-11-12 21:00:08
          有效期:
          2024年11月12日 -- 2025年5月12日
          已獲點(diǎn)擊:
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          (聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

          產(chǎn)品簡介

          Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

          Zeta電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運(yùn)動速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動,較小

          詳細(xì)介紹

          • Zeta電位測試

          測試范圍

          -500mv ~ 500mv

          粒度范圍

          1nm-9500nm(與樣品有關(guān))

          樣品池容積

          400μl

          測試原理

          ELS(電泳光散射)

          散射角

          15 度

          大濃度

          40% w/v

          相關(guān)器

          1000通道線性相關(guān)器

          電導(dǎo)率范圍

          200 mS/cm
          • 粒度分布測試

          粒度測試范圍

          1-9500nm(與樣品有關(guān))

          測試原理

          DLS( 動態(tài)光散射)

          重復(fù)性誤差

          1%(國標(biāo)樣D50 偏差)

          相關(guān)器

          1000 個物理通道

          準(zhǔn)確性誤差

          1%(國標(biāo)樣D50 偏差)

          光源

          固體激光器

          樣品池容積

          1ml / 4ml

          激光器波長

          671nm

          樣品池溫控范圍

          1590

          激光器功率

          50mW

          溫控精度

          ±0.2

          散射角

          90

          • 分子量測試

          分子量范圍

          1000Da2x107Da

          準(zhǔn)確性誤差

          10%

          測試原理

          SLS(靜態(tài)光散射)

          重復(fù)性誤差

          5%

          三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

          包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

          四、突出特點(diǎn)

          • BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運(yùn)動速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。

          • 納米粒度分布測量采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。

          • 分子量測量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測量不同濃度中測量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

          五、良好的重復(fù)性

          • 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)

          • 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊

          • 高精度樣品池定位組件

          六、良好的準(zhǔn)確性

          • 粒度測試準(zhǔn)確性:用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測試,結(jié)果為101nm,誤差范圍為1%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。

          • Zeta 電位測試準(zhǔn)確性:用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測試,結(jié)果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。

          • 分子量測試


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