SHK-A191半導(dǎo)體測(cè)試儀器1

可執(zhí)行芯片推拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用。可配置為簡(jiǎn)單焊線拉力測(cè)試儀，也可升級(jí)進(jìn)行錫球剪切力、晶粒剪切力、凸塊拉力、矢量拉力或鑷鉗拉力測(cè)試是用于微電子封裝和pcba電子組裝制造及其失效分析領(lǐng)域的專用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器，是國(guó)內(nèi)的微電子和電子制造領(lǐng)域的重要儀器設(shè)備。該設(shè)備測(cè)試動(dòng)作迅速、準(zhǔn)確、適用面廣、測(cè)試精度高，適用于半導(dǎo)體ic封裝測(cè)試、led封裝測(cè)試、光電子器件封裝測(cè)試、pcba電子組

裝測(cè)試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析以及各類院校教學(xué)和研究領(lǐng)域。

檢卓?jī)x器SHK-A191推拉力測(cè)試機(jī) 剪切力焊接強(qiáng)度測(cè)試儀廣泛應(yīng)于與LED封裝測(cè)試、IC半導(dǎo)體封裝測(cè)試、TO封裝測(cè)試、IGBT功率模塊封裝測(cè)試、光電子元器件封裝測(cè)試、汽車領(lǐng)域、航天航空領(lǐng)域、軍工產(chǎn)品測(cè)試、研究機(jī)構(gòu)的測(cè)試、微電子行業(yè)測(cè)試及各類院校的測(cè)試研究等應(yīng)用。公司產(chǎn)品有：半導(dǎo)體推力測(cè)試儀,半導(dǎo)體推拉力儀器,LED推拉力測(cè)試機(jī),LED推拉力測(cè)試機(jī),拉伸試驗(yàn)機(jī),自動(dòng)推拉力測(cè)試機(jī),自動(dòng)推拉力測(cè)試機(jī),半導(dǎo)體芯片封裝檢測(cè)設(shè)備

主要技術(shù)參數(shù)：

推拉力測(cè)試機(jī)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1、電腦自動(dòng)選取合適的推拉刀，無(wú)需人手更換

2、采用進(jìn)口傳動(dòng)部件結(jié)合*力學(xué)算法，確保機(jī)臺(tái)運(yùn)行穩(wěn)定性及測(cè)試精度。

3、多功能四軸自動(dòng)控制運(yùn)動(dòng)平臺(tái)，采用進(jìn)口傳動(dòng)部件，確保機(jī)臺(tái)的高速、長(zhǎng)久穩(wěn)定運(yùn)行。

4、旋轉(zhuǎn)盤(pán)內(nèi)置三個(gè)不同量程測(cè)試傳感器，滿足不同測(cè)試需求，避免因人員誤操作帶來(lái)的設(shè)備損壞。

5、優(yōu)異的可操控性，左右雙搖桿控制器，可自由擺放手感舒適，操作簡(jiǎn)單便捷。

6、 強(qiáng)大分析軟件進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、破斷分析、QC報(bào)表，測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存與導(dǎo)出，方便快捷。

7、機(jī)載統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)按照等級(jí)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差和CPK分布曲線顯示測(cè)試結(jié)果。

8、弧線形設(shè)計(jì)便于調(diào)整顯微鏡支架。

9、顯微鏡光源為雙光纖LED，冷光源，不發(fā)熱，可隨意彎曲。

10、XY平臺(tái)，可以根據(jù)要求定制，滿足更廣泛的測(cè)試范圍。

11、圖像采集系統(tǒng)，快速簡(jiǎn)單的設(shè)置，安裝在靠近測(cè)試頭位置，以便幫助更快地測(cè)試。提高測(cè)試自動(dòng)化速度。

推拉力測(cè)試機(jī)設(shè)備特征：

1、采用測(cè)試工位自動(dòng)模式，在軟件選擇測(cè)試工位后，系統(tǒng)自動(dòng)到達(dá)對(duì)應(yīng)工作位。

2、每項(xiàng)傳感器采用獨(dú)立防碰撞及過(guò)力保護(hù)系統(tǒng)。

3、三個(gè)工作傳感器,采用獨(dú)立采集系統(tǒng),保證測(cè)試精度。

4、軟件自動(dòng)生成報(bào)告及存儲(chǔ)功能，支持MES系統(tǒng)。

5、荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可自由切換。

6、人性化的操作界面,人員操作方便。

7、每項(xiàng)測(cè)試工作采用獨(dú)立安全限位及限速功能。

8、智能數(shù)據(jù)分析軟件，自動(dòng)記錄并計(jì)算多點(diǎn)測(cè)試數(shù)據(jù)的Cpk值，可記錄單點(diǎn)測(cè)試的力值、時(shí)間曲線。

9、根據(jù)客戶測(cè)試需求，非標(biāo)定制各種測(cè)試夾具，有效確保用戶測(cè)試數(shù)據(jù)的真實(shí)性。

推拉力測(cè)試機(jī)主要功能：

1、引線與晶片電極及框架粘接度拉力測(cè)試。

2、焊點(diǎn)與晶片電極粘接力推力測(cè)試;焊點(diǎn)與框架表面粘接力推力測(cè)試。

3、晶片與支架表面粘接力推力測(cè)試。

4、配備電腦可實(shí)時(shí)顯示拉力曲線。

5、模組采用動(dòng)態(tài)傳感器及高速力值采集系統(tǒng)。

6、設(shè)備平面可滿足各種治具的靈活切換。

推拉力測(cè)試機(jī)參考標(biāo)準(zhǔn)：

冷/熱焊凸塊拉力 -JEITA EIAJ ET-7407/IPC-9708

BGA凸點(diǎn)剪切 -JEDEC JESD22-B117A

冷焊凸塊拉力 -JEDEC JESD22-B115

金球剪切 -JEDEC JESD22-B116

球焊剪切 -ASTM F1269

引線拉力 -DT/NDT MIL STD 883

芯片剪切 -MIL STD 883

立柱拉力 -MIL STD 883

倒裝焊拉力 -JEDEC JESD22-B109

集成電路倒裝焊試驗(yàn)方法 GB∕T 35005-20181.1、推力測(cè)試：通過(guò)左右搖桿將測(cè)試頭移動(dòng)至所測(cè)試產(chǎn)品后上方，按測(cè)試后，Z 軸自動(dòng)向下移動(dòng)，當(dāng)測(cè)試針頭觸至測(cè)試基板表面后，Z 向觸發(fā)信號(hào)啟動(dòng)，停止下降，Z 軸向上升至設(shè)定的剪切高度后停止。Y 軸按軟件設(shè)定參數(shù)移動(dòng)，當(dāng)移動(dòng)完成設(shè)定距離參數(shù)后，設(shè)備停止運(yùn)動(dòng)，軟件將測(cè)試過(guò)程中的受力過(guò)程以曲線方式顯示，同時(shí)將過(guò)程中峰值力值進(jìn)行數(shù)據(jù)分析后顯示并保存。

2、拉力測(cè)試：通過(guò)左右搖桿將拉力測(cè)試頭 移動(dòng)至測(cè)試物體按測(cè)試后，Z 軸自動(dòng)向上移動(dòng)，當(dāng)移動(dòng)完成設(shè)

定距離參數(shù)后，設(shè)備停止運(yùn)動(dòng)，軟件將測(cè)試過(guò)程中的受力分布以曲線方式顯示，同時(shí)將過(guò)程中峰值力值進(jìn)行數(shù)據(jù)分析后顯示并保存。