德國(guó)ROENTDEK檢測(cè)器MCP系列
普索貿(mào)易
1、所有產(chǎn)品直接通過(guò)德國(guó)*采購(gòu),歐元交易享受歐盟區(qū)域特殊折扣。
2、所有產(chǎn)品100%*,原廠(chǎng)Packing List、Invoice、原廠(chǎng)證明、原產(chǎn)地證明、德國(guó)香港海關(guān)關(guān)単手續(xù)齊全。
3、歐盟境內(nèi)5000余家供應(yīng)商,包含施耐德、菲尼克斯等3000多個(gè)工控自動(dòng)化品牌,500多份原廠(chǎng)提供價(jià)格表迅速報(bào)價(jià)。
4、每周法蘭克福-香港空運(yùn)專(zhuān)線(xiàn),香港-深圳72小時(shí)清關(guān),貨期優(yōu)勢(shì)較北京、上海等更加快速靈活。
5、公司內(nèi)部無(wú)紙化ERP辦公,詢(xún)報(bào)價(jià)處理及時(shí)快速!
德國(guó)ROENTDEK檢測(cè)器MCP系列
ROENTDEK品牌
ROENTDEK型號(hào)
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ROENTDEK資料
ROENTDEK中國(guó)
ROENTDEK檢測(cè)器兩個(gè)特異性制品組件鏈接roentdek MCP型探測(cè)器,即這dld和十六進(jìn)制與高壓模塊(如供roentdek hv2 / 4)和與前端電子器件(例如roentdek費(fèi))繼續(xù)處理探測(cè)器信號(hào)檢索兩個(gè)小時(shí)和位置坐標(biāo)為detected顆粒。
該產(chǎn)品組件還可以包括法蘭安裝齒輪探測(cè)器,例如ft12tp100安裝dld40上dn100cf(icf153)法蘭。安裝齒輪圖紙?jiān)趓oentdek網(wǎng)站提供。
ROENTDEK檢測(cè)器產(chǎn)品規(guī)格:
信號(hào)輸出帶寬:約500兆赫
工作電壓:4千伏
輸入阻抗:陽(yáng)極信號(hào)150歐姆
ROENTDEK光子探測(cè)器DLD40
ROENTDEK光子探測(cè)器DLD40
ROENTDEK光子探測(cè)器DLD40: 2-dim延遲線(xiàn)檢測(cè)器 微通道板(L / D 60:1,1.5mm厚(25μm孔),外徑50mm,電阻匹配在10%以?xún)?nèi))人字紋構(gòu)造,有效直徑> 42mm,質(zhì)量線(xiàn)性直徑40mm。檢測(cè)器尺寸:直徑95mm,深度30mm。檢測(cè)器的速率容差至少為1 MHz。
DLD80: 2-dim延遲線(xiàn)檢測(cè)器 微通道板(L / D 60:1,1.5mm厚(25μm孔),外徑87mm,電阻匹配在10%以?xún)?nèi)),人字紋構(gòu)造,有效直徑> 75mm,質(zhì)量線(xiàn)直徑75mm。檢測(cè)器尺寸:直徑145 mm,深度30 mm。檢測(cè)器的速率容差至少為1MHz。
HEX75b:具有改善的多點(diǎn)容差(零死區(qū)時(shí)間)的2-dim延遲線(xiàn)檢測(cè)器,包括 微通道板(L / D 75:1,1mm厚(13μm 孔),87mm外徑,OAR 70%,電阻匹配在10%以?xún)?nèi)),人字紋疊層配置,檢測(cè)器的有效直徑為75mm。檢測(cè)器尺寸:直徑196mm,深度30mm。
DLD120: 2-dim延遲線(xiàn)檢測(cè)器 微通道板(L / D 60:1,1.5mm厚(25μm孔),127mm外徑,電阻匹配在10%以?xún)?nèi)),人字紋構(gòu)造,有效直徑120mm,質(zhì)量直徑115mm。檢測(cè)器尺寸:直徑196mm,深度30mm。檢測(cè)器的速率容差至少為1MHz。
DET40 / 75:粒子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 微通道板(L / D 74:1,1mm厚,13微米孔徑,OAR 70%,成像等級(jí),50 / 87mm外徑(有效> 40/75mm),匹配電阻在10%以?xún)?nèi),金屬(正時(shí))陽(yáng)極。無(wú)法蘭安裝的檢測(cè)器尺寸):直徑66/106 mm,深度10 mm。計(jì)數(shù)率至少為1 MHz。
RS-DET40: CF100(ICF153)上的法蘭安裝的40 mm MCP堆疊(Chevron),帶電阻屏,用于空氣側(cè)讀出電極上的圖像充電信號(hào)拾?。K化,例如延遲線(xiàn),楔形和帶狀,成像像素)。包括信號(hào)饋通和MCP定時(shí)拾?。ㄈ鏔T4TP)。
ROENTDEK光子探測(cè)器以外熱門(mén)的型號(hào):
ROENTDEK光子探測(cè)器產(chǎn)品型號(hào):DLD40、DLD40EP、DLD80、DLD75eT、HEX75b、f HEX75 / 40、HEX40o、HEX75o、HEX120o、DLD120、DLD150、DLD105、HEX100、DET40 / 75、RS-DET40、RS-DET75、DLD40X、DLD75X。
將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域,在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
偏光顯微是鑒定物質(zhì)細(xì)微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來(lái)進(jìn)行觀(guān)察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點(diǎn),就是將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中,很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。在植物學(xué)方面,如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細(xì)胞壁以及細(xì)胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,病菌的入侵,常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變,可以偏光顯微術(shù)進(jìn)行鑒別。將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域,在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
偏光顯微是鑒定物質(zhì)細(xì)微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來(lái)進(jìn)行觀(guān)察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點(diǎn),就是將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中,很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。在植物學(xué)方面,如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細(xì)胞壁以及細(xì)胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,病菌的入侵,常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變,可以偏光顯微術(shù)進(jìn)行鑒別。將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域,在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
偏光顯微是鑒定物質(zhì)細(xì)微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來(lái)進(jìn)行觀(guān)察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點(diǎn),就是將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中,很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。在植物學(xué)方面,如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細(xì)胞壁以及細(xì)胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,病菌的入侵,常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變,可以偏光顯微術(shù)進(jìn)行鑒別。