LEBOW COMPANY進(jìn)口LEBOW COMPANY錫箔
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LEBOW COMPANY資料
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LEBOW COMPANY 0.2 micron Zr foil, 10mm diameter P/N 0.2Zr-0-L1.0 8109900090
LEBOW COMPANY 0.2 micron Sn foil, 10mm diameter P/N 0.2Sn-0-L1.0 8007003000
LEBOW COMPANY 0.2 micron In foil, 10mm diameter P/N 0.2In-0-L1.0 8112993000
LEBOW COMPANY 0.2 micron Al foil, 10mm diameter P/N 0.2Al-0-L1.0 7607111000
LEBOW COMPANY 0.2 micron Zr foil, 10mm diameter
LEBOW COMPANY 0.2 micron Sn foil, 10mm diameter
LEBOW COMPANY 0.2 micron In foil, 10mm diameter
LEBOW COMPANY 0.2 micron Al foil, 10mm diameter
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Bürkert 316530 德國 閥門定位器
Bürkert 00555291 德國 液位傳感器
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Bürkert 332165 德國 開關(guān)閥
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DELO 9070158 3000000961 德國 點(diǎn)膠頭
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SensoPart FT 10-RLH-PS-KM3-X07 德國 光電傳感器
物鏡中心校正
這是在進(jìn)行旋轉(zhuǎn)臺校正之前必須作的,否則后面的校正操作將無任何意義。校正方法即一般顯微鏡的物鏡中心校正(注意轉(zhuǎn)物臺時,旋轉(zhuǎn)臺各軸要位于零位)。所有待使用的物鏡均需校正。
旋轉(zhuǎn)臺中心校正
目的是使旋轉(zhuǎn)臺的直立軸與顯微鏡軸重合。移動薄片使一微小礦物顆粒(以下簡稱質(zhì)點(diǎn))置十字絲交點(diǎn)上,各軸位于零位,物臺鎖在0°。
轉(zhuǎn)N軸360°,若質(zhì)點(diǎn)繞十字絲中心作圓周運(yùn)動,表明中心不正,需要校正。方法原理同顯微鏡物鏡中心校正,轉(zhuǎn)N軸180°,質(zhì)點(diǎn)距離中心遠(yuǎn),輕輕轉(zhuǎn)動附加底盤的兩個校正螺絲(無此底盤者,用雙手輕輕推動尚未鎖緊的底座),將質(zhì)點(diǎn)移到距十字絲中心一半的位置,用手挪動薄片,使原質(zhì)點(diǎn)或另選的質(zhì)點(diǎn)置于視域中心。
再轉(zhuǎn)N軸檢查,若質(zhì)點(diǎn)仍偏離十字絲中心運(yùn)動,需再次調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)臺的校正螺絲(或移動底座),直到視域中心的質(zhì)點(diǎn)在轉(zhuǎn)N軸檢查時不偏離十字絲中心為止。對不具附加底盤的旋轉(zhuǎn)臺,此時一定要鎖緊底座固定螺絲。
旋轉(zhuǎn)軸校正
I軸的校正及物臺零位的確定:目的是使I軸嚴(yán)格平行十字絲橫絲。檢查和校正的方法是:將各軸和物臺鎖在0°(M軸在90°)。提升鏡筒(或下降物臺)焦準(zhǔn)上半球表面的塵點(diǎn),放松I軸鎖軸螺絲,往返轉(zhuǎn)動I軸(大限度),同時觀察十字絲附近的塵點(diǎn)移動軌跡,如軌跡平行十字絲縱絲,說明I軸恰在東西方向(平行十字絲橫絲), 載物臺0°即為物臺的零位。
H軸的校正和ITt環(huán)零點(diǎn)的確定:當(dāng)各軸和物臺位于零位時,H軸應(yīng)與十字絲縱絲平行。檢查和校正方法同上所述,但轉(zhuǎn)H軸要觀察塵點(diǎn)是否沿十字絲橫絲移動,如有偏差,轉(zhuǎn)M軸加以校正,校正后M軸(m環(huán))的刻度讀數(shù)確定為零位(如89.5°),此數(shù)為該旋轉(zhuǎn)臺的基本常數(shù),長期有效,不必每次裝臺均校正。
物鏡中心校正
這是在進(jìn)行旋轉(zhuǎn)臺校正之前必須作的,否則后面的校正操作將無任何意義。校正方法即一般顯微鏡的物鏡中心校正(注意轉(zhuǎn)物臺時,旋轉(zhuǎn)臺各軸要位于零位)。所有待使用的物鏡均需校正。
旋轉(zhuǎn)臺中心校正
目的是使旋轉(zhuǎn)臺的直立軸與顯微鏡軸重合。移動薄片使一微小礦物顆粒(以下簡稱質(zhì)點(diǎn))置十字絲交點(diǎn)上,各軸位于零位,物臺鎖在0°。
轉(zhuǎn)N軸360°,若質(zhì)點(diǎn)繞十字絲中心作圓周運(yùn)動,表明中心不正,需要校正。方法原理同顯微鏡物鏡中心校正,轉(zhuǎn)N軸180°,質(zhì)點(diǎn)距離中心遠(yuǎn),輕輕轉(zhuǎn)動附加底盤的兩個校正螺絲(無此底盤者,用雙手輕輕推動尚未鎖緊的底座),將質(zhì)點(diǎn)移到距十字絲中心一半的位置,用手挪動薄片,使原質(zhì)點(diǎn)或另選的質(zhì)點(diǎn)置于視域中心。
再轉(zhuǎn)N軸檢查,若質(zhì)點(diǎn)仍偏離十字絲中心運(yùn)動,需再次調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)臺的校正螺絲(或移動底座),直到視域中心的質(zhì)點(diǎn)在轉(zhuǎn)N軸檢查時不偏離十字絲中心為止。對不具附加底盤的旋轉(zhuǎn)臺,此時一定要鎖緊底座固定螺絲。
旋轉(zhuǎn)軸校正
I軸的校正及物臺零位的確定:目的是使I軸嚴(yán)格平行十字絲橫絲。檢查和校正的方法是:將各軸和物臺鎖在0°(M軸在90°)。提升鏡筒(或下降物臺)焦準(zhǔn)上半球表面的塵點(diǎn),放松I軸鎖軸螺絲,往返轉(zhuǎn)動I軸(大限度),同時觀察十字絲附近的塵點(diǎn)移動軌跡,如軌跡平行十字絲縱絲,說明I軸恰在東西方向(平行十字絲橫絲), 載物臺0°即為物臺的零位。
H軸的校正和ITt環(huán)零點(diǎn)的確定:當(dāng)各軸和物臺位于零位時,H軸應(yīng)與十字絲縱絲平行。檢查和校正方法同上所述,但轉(zhuǎn)H軸要觀察塵點(diǎn)是否沿十字絲橫絲移動,如有偏差,轉(zhuǎn)M軸加以校正,校正后M軸(m環(huán))的刻度讀數(shù)確定為零位(如89.5°),此數(shù)為該旋轉(zhuǎn)臺的基本常數(shù),長期有效,不必每次裝臺均校正。
物鏡中心校正
這是在進(jìn)行旋轉(zhuǎn)臺校正之前必須作的,否則后面的校正操作將無任何意義。校正方法即一般顯微鏡的物鏡中心校正(注意轉(zhuǎn)物臺時,旋轉(zhuǎn)臺各軸要位于零位)。所有待使用的物鏡均需校正。
旋轉(zhuǎn)臺中心校正
目的是使旋轉(zhuǎn)臺的直立軸與顯微鏡軸重合。移動薄片使一微小礦物顆粒(以下簡稱質(zhì)點(diǎn))置十字絲交點(diǎn)上,各軸位于零位,物臺鎖在0°。
轉(zhuǎn)N軸360°,若質(zhì)點(diǎn)繞十字絲中心作圓周運(yùn)動,表明中心不正,需要校正。方法原理同顯微鏡物鏡中心校正,轉(zhuǎn)N軸180°,質(zhì)點(diǎn)距離中心遠(yuǎn),輕輕轉(zhuǎn)動附加底盤的兩個校正螺絲(無此底盤者,用雙手輕輕推動尚未鎖緊的底座),將質(zhì)點(diǎn)移到距十字絲中心一半的位置,用手挪動薄片,使原質(zhì)點(diǎn)或另選的質(zhì)點(diǎn)置于視域中心。
再轉(zhuǎn)N軸檢查,若質(zhì)點(diǎn)仍偏離十字絲中心運(yùn)動,需再次調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)臺的校正螺絲(或移動底座),直到視域中心的質(zhì)點(diǎn)在轉(zhuǎn)N軸檢查時不偏離十字絲中心為止。對不具附加底盤的旋轉(zhuǎn)臺,此時一定要鎖緊底座固定螺絲。
旋轉(zhuǎn)軸校正
I軸的校正及物臺零位的確定:目的是使I軸嚴(yán)格平行十字絲橫絲。檢查和校正的方法是:將各軸和物臺鎖在0°(M軸在90°)。提升鏡筒(或下降物臺)焦準(zhǔn)上半球表面的塵點(diǎn),放松I軸鎖軸螺絲,往返轉(zhuǎn)動I軸(大限度),同時觀察十字絲附近的塵點(diǎn)移動軌跡,如軌跡平行十字絲縱絲,說明I軸恰在東西方向(平行十字絲橫絲), 載物臺0°即為物臺的零位。
H軸的校正和ITt環(huán)零點(diǎn)的確定:當(dāng)各軸和物臺位于零位時,H軸應(yīng)與十字絲縱絲平行。檢查和校正方法同上所述,但轉(zhuǎn)H軸要觀察塵點(diǎn)是否沿十字絲橫絲移動,如有偏差,轉(zhuǎn)M軸加以校正,校正后M軸(m環(huán))的刻度讀數(shù)確定為零位(如89.5°),此數(shù)為該旋轉(zhuǎn)臺的基本常數(shù),長期有效,不必每次裝臺均校正。