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          Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器
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          • Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器

          舉報
          貨物所在地: 上海上海
          產(chǎn)地: 美國
          更新時間: 2024-09-09 21:00:07
          期: 2024年9月9日--2025年3月9日
          已獲點擊: 175
          在線詢價收藏產(chǎn)品

          (聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

          產(chǎn)品簡介

          Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器
          Varex Imaging Corporation是X射線成像組件解決方案的*創(chuàng)新者,開發(fā)商和制造商,其中包括X射線管,數(shù)字平板探測器,軟件以及X射線成像系統(tǒng)的其他關(guān)鍵組件。 憑借65多年的成功創(chuàng)新歷史,您將在無數(shù)的醫(yī)療,工業(yè)和安全成像應(yīng)用中找到我們的組件。

          詳細(xì)介紹

          Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器

          無損檢測(NDT)

          Varex提供從工業(yè)X射線管到線性加速器,從工業(yè)平板探測器到成像軟件的無損檢測(NDT)解決方案。

          非破壞性測試(也稱為非破壞性成像(NDI))是一種成像分析,涵蓋了廣泛的應(yīng)用程序,可在不破壞材料本身的情況下評估材料的性能。 要求無損檢測的一些應(yīng)用包括:

          • 鑄造檢查
          • 焊接和管道成像
          • 電子檢查

          我們種類繁多的玻璃和陶瓷X射線管為無損檢測應(yīng)用提供了廣泛的目標(biāo)角度,焦點和功率功能。 對于需要不同參數(shù)和高分辨率成像的檢查操作,Varex提供了具有小焦點的雙聚焦管和單聚焦管以及帶有鈹(Be)的X射線管,用于低固有過濾。 這項技術(shù)可幫助專業(yè)人士分析管道和其他工業(yè)結(jié)構(gòu)的完整性,而不會損壞所討論的材料或系統(tǒng)。

          Varex工業(yè)平板探測器還設(shè)計用于滿足廣泛的非破壞性測試應(yīng)用。 通過提供各種尺寸的產(chǎn)品,我們的檢測器有助于防止幾何變形并*地減小磁場和輻射的影響。 我們的探測器技術(shù)使我們的客戶能夠利用的數(shù)字圖像質(zhì)量,高通量和CT功能。 這些檢測器可在整個視場中呈現(xiàn)均勻,不失真的高分辨率圖像,使技術(shù)人員可以拍攝更高質(zhì)量的圖像。 由于我們的平板檢測器可以捕獲數(shù)字圖像并消除膠片需求,因此可以在更短的時間內(nèi)捕獲更多圖像。

          如果您的非破壞性測試需求要求您對需要更高能量的大型結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像,那么我們的線性加速器是一種出色的解決方案,可幫助您對像火箭和其他航空航天產(chǎn)品一樣大的物體成像。

           

          滿足您的無損檢測需求的成像解決方案

          Varex Imaging Nondestructive Testing X-ray Tubes

          工業(yè)X射線管

          Varex Imaging Industrial Flat Panel

          工業(yè)平板探測器

          Varex Imaging Linear Accelerator

          直線加速器

          計量與材料科學(xué)

          材料科學(xué)和計量X射線系統(tǒng)提供了用于制造各種組件的測量解決方案,從微型和宏觀零件到大型發(fā)動機(jī)和風(fēng)力渦輪機(jī),都變得更加堅固,安全和節(jié)能。

          什么是材料科學(xué)? 從原子尺度看材料的結(jié)構(gòu)并進(jìn)行直接的結(jié)構(gòu)測量。 有多種測量材料的X射線方法-包括計量,熒光,衍射和晶體學(xué)。 計量是指獲取一組組件的CT圖像以對其進(jìn)行測量,對組件進(jìn)行大量測試(例如應(yīng)力,熱循環(huán)和濕度),然后獲取另一組CT圖像并分析變化的過程。 X射線衍射和晶體學(xué)用于鑒定材料的原子特性。 X射線被晶體中原子的規(guī)則三維排列衍射,然后通過成像板或檢測器記錄所得的衍射圖樣。 從衍射圖樣可以診斷出它是一種特殊的材料。 將衍射圖與計算機(jī)數(shù)據(jù)庫中的衍射圖進(jìn)行比較,以找到匹配結(jié)果。 XRF(X射線熒光)是一種無損分析技術(shù),用于確定材料的元素組成。 XRF分析儀通過測量樣品在一次X射線源激發(fā)下發(fā)出的熒光(或二次)X射線來確定樣品的化學(xué)性質(zhì)。 它用于測試金屬和涂層的厚度。

          從科學(xué)研究到工業(yè)質(zhì)量控制(例如:航空航天業(yè)的渦輪機(jī)鑄件質(zhì)量檢查),我們的X射線組件都增強(qiáng)了測量技術(shù),可確保在需要高精度的任何地方達(dá)到高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。 和他們的:

          • 高動態(tài)范圍和對比度
          • 高飽和劑量
          • 低劑量時具有高靈敏度和對比度
          • CMOS檢測器的高速和低延遲
          • 低噪聲
          • 能量范圍廣,目標(biāo)材料不同
          • Varex Imaging X射線平板探測器和顯像管為許多科學(xué)X射線應(yīng)用提供了明顯的優(yōu)勢。

           

           

          滿足您的材料科學(xué)需求的成像解決方案

          工業(yè)平板探測器

          工業(yè)平板探測器

          無損檢測X射線管

          工業(yè)X射線管

          Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器

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