美國捷特ZETEC TOPAZ 16超聲波相控陣探傷儀
TOPAZ 16當(dāng)前具有兩種可選型號:
TOPAZ 16可適用于大多數(shù)常規(guī)檢測應(yīng)用:
- 碳鋼焊縫檢測
- 金屬平板或管道腐蝕
- 復(fù)合材料分層檢測
- 攪拌摩擦焊
- 薄壁不銹鋼檢測
- 小徑管檢測
TOPAZ 16性能特點(diǎn):
- 10.4英寸多點(diǎn)觸控高清顯示屏設(shè)計(jì),1024*768 分辨率
- 密閉的鋁外殼式設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊、輕巧便攜,整機(jī)重量4.5Kg
- 具有1高質(zhì)量卡鎖式相控陣接口,2個(gè)常規(guī)超聲Lemo 00接口,可用于P/E、P/C或TOFD模式的檢測
- 外置無空氣吸入式風(fēng)扇,良好的散熱與防塵抗噪特性適用于的現(xiàn)場檢測環(huán)境
- 2塊可熱插拔式電池可持續(xù)供電8小時(shí)以上
- 內(nèi)置UltraVision® Touch軟件,支持高級聚焦法則計(jì)算,3D工件視圖顯示,具有良好的人機(jī)交互界面
- HDMI視頻輸出接口,128G SSD固態(tài)硬盤使數(shù)據(jù)傳輸更快
- 1 USB3.0,3 USB2.0接口,1000Base-T以太網(wǎng)絡(luò)接口有效提高數(shù)交換速度
- 16位波幅分辨率,大大提高信號幅值精度,有利于更加準(zhǔn)確的缺陷判讀
碳鋼焊縫檢測:
平板或管道對接焊縫的檢測可選擇:TOPAZ 16+Wled Crawler自動或手動掃查器可以實(shí)現(xiàn)雙PAUT+TOFD檢測同時(shí)進(jìn)行,且可以實(shí)現(xiàn)掃查數(shù)據(jù)編碼記錄。TOPAZ 16支持視頻數(shù)據(jù)與掃查數(shù)據(jù)同屏顯示處理,配備視頻監(jiān)控與紅外指示線可防止探頭移動軌跡發(fā)生偏離,大大提高了檢測精度及效率。
TOPAZ 16一臺即可完成PAUT+TOFD聚焦法則的快速設(shè)置,檢測前的準(zhǔn)備工作只需要單人即可完成。
平板雙側(cè)PAUT+TOFD掃查
管道雙側(cè)PAUT+TOFD掃查
PAUT+TOFD聚焦法則設(shè)置
Weld Crawler掃查器+ZMC4運(yùn)動控制器
缺陷掃查圖像
TOPAZ 16在焊縫檢測中具有較好的檢測效果,設(shè)備簡單,不需要太多的檢測設(shè)備就可以得到很好的檢測結(jié)果,盡管儀器尺寸較小但是依舊具備了高分辨率的顯示屏,16位的波幅分辨率可以讓信號達(dá)到800%的全屏高度,保證了檢測結(jié)果的精確性。
在進(jìn)行碳鋼焊縫檢測時(shí),TOPAZ 16一臺設(shè)備即可完成PAUT+TOFD的檢測,內(nèi)置的UltraVision Touch軟件支持利用TOPAZ 16完成檢測設(shè)置,數(shù)據(jù)采集,數(shù)據(jù)分析,報(bào)告生成一整套檢測流程,同時(shí)結(jié)合Weld Crawler掃查器+ZMC4運(yùn)動控制器(由TOPAZ 16控制),可實(shí)現(xiàn)焊縫自動掃查,大大提高了檢測的效率,為企業(yè)節(jié)約了大量的時(shí)間與成本。
金屬平板或管道腐蝕檢測:
金屬平板或管道腐蝕檢測可選擇:TOPAZ 16+PaintBrush刷式掃查器,TOPAZ 16具備16位的波幅分辨率,有效提高了信號的幅值精度,結(jié)合刷式掃查器可以得到兩軸編碼的C掃描數(shù)據(jù),且通過實(shí)時(shí)成像可以清晰的從C掃描圖像上看到工件內(nèi)部的情況,從而有效提高了工件檢測效率。
復(fù)合材料分層檢測:
TOPAZ 16+PaintBrush刷式掃查器,復(fù)合材料檢測通常不需要很大的激發(fā)孔徑實(shí)現(xiàn)較深的聚焦,但是需要探頭可以支持足夠的晶片數(shù)以實(shí)現(xiàn)較大的掃查區(qū)域覆蓋,所以TOPAZ 16*勝任此類檢測應(yīng)用。同時(shí)刷式掃查器具備專門用于復(fù)合材料檢測的非磁性輪,通過精確的位置編碼能夠很好的將復(fù)合材料中缺陷還原到C掃描圖像當(dāng)中去。并且儀器內(nèi)置的UltraVision@ Touch軟件支持C掃描合成功能,可以對數(shù)據(jù)進(jìn)行拼接處理達(dá)到一個(gè)工件完整顯示。
復(fù)合材料分層缺陷檢測
且對于不同厚度,不同材料結(jié)構(gòu)的復(fù)合材料可以更換不同晶片數(shù)及不同頻率的探頭,高頻探頭有助于提高小缺陷的分辨率,低頻探頭可以減小因材料帶來的能量衰減,一發(fā)一收探頭有助于減小表面盲區(qū),提高信號的信噪比。
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