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5● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
目錄:上海騁利電子科技有限公司>>日置Hioki>>元器件參數(shù)測(cè)試附件>> 3504-40C測(cè)試儀
| 參考價(jià) | ￥ 88 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
| ￥88 |
| ≥1臺(tái) |
更新時(shí)間：2024-10-30 22:34:27瀏覽次數(shù)：147評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件
概要
規(guī)格
選件
相關(guān)下載
| 測(cè)量參數(shù) | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
|---|---|
| 測(cè)量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測(cè)定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù) |
| 測(cè)量頻率 | 120Hz, 1kHz |
| 測(cè)量信號(hào)電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測(cè)量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 | 5Ω（CV測(cè)量范圍以外的開(kāi)路端子電壓模式時(shí)） |
| 顯示 | 發(fā)光二級(jí)管 （6位表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定） |
| 測(cè)量時(shí)間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分類(lèi)測(cè)量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說(shuō)明書(shū)×1 |
2m長(zhǎng)
查看詳情>>數(shù)碼打印
查看詳情>>適用于打印機(jī)9442
查看詳情>>適用于9442, 線長(zhǎng):1.5 m
查看詳情>>112mm x 25m, 10卷/盒
查看詳情>>用于底部有電極的SMD DC~120MHz，測(cè)試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5
查看詳情>>用于側(cè)面有電極的SMD DC~120MHz，測(cè)試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
查看詳情>>直接連接型, DC～5 MHz 測(cè)試尺寸: 1mm～10.0mm
查看詳情>>DC～8 MHz, 直接連接型
查看詳情>>電纜連接型, DC ～ 5 MHz, 1m長(zhǎng)
查看詳情>>線長(zhǎng)73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm
查看詳情>>DC～100kHz, 1m長(zhǎng)
查看詳情>>最shi用于分揀·檢查的電容測(cè)試儀電容測(cè)試儀 3506-10 ·模擬測(cè)量時(shí)間0.5ms(1MHz)的高速測(cè)量·抗干擾性提高，微小電容的反復(fù)精度大幅提高·使用1MHz穩(wěn)定測(cè)量低容量電容電容測(cè)試儀 3504-60,3504-50,3504-40 · 模擬測(cè)量時(shí)間1ms(1kHz)可測(cè)量定電壓，最shi用于測(cè)量高容量MLCC ·可測(cè)量高達(dá)1.45mF的高容量定電壓(120Hz，500mV時(shí)) ·3504-60可進(jìn)行4端子接觸檢查。
3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通優(yōu)點(diǎn)共通優(yōu)點(diǎn)
■對(duì)應(yīng)JIS C 5101-1的電容測(cè)試儀3506~3504的測(cè)量頻率電容的種類(lèi)去除電解電容的電容容量范圍C C≤1000pF 1000pF＜C≤10µF測(cè)量頻率[Hz]
●記號(hào)為推薦頻率1M對(duì)應(yīng)機(jī)型
● 3506-10 1k ● 120 10µF＜C電解電容
■ BIN功能---C測(cè)量根據(jù)測(cè)量值最多分類(lèi)為14個(gè)等級(jí)※1，易于進(jìn)行分揀等。※1 3506,3505最多為13個(gè)等級(jí)。3504-40無(wú)BIN功能。
● 120 ○
■ 只需選擇的簡(jiǎn)單操作&LED顯示3504-60 3504-50 3504-40 3511-50 (參考)只需從面板標(biāo)記項(xiàng)目中進(jìn)行選擇，操作簡(jiǎn)單。設(shè)定好的測(cè)量條件會(huì)點(diǎn)亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。
■ 比較器功能第一參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進(jìn)行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。
■ 存儲(chǔ)功能測(cè)量數(shù)據(jù)可保存在主機(jī)?？赏ㄟ^(guò)GP-IB，RS-232C讀出?！?506-10 ......................................1,000個(gè) 3504-60, 3504-50, 3504-40 ......32,000個(gè)
■ 觸發(fā)同步輸出功能施加觸發(fā)后輸出測(cè)量信號(hào)，僅在測(cè)量時(shí)將信號(hào)施加到被測(cè)物上。因?yàn)槭窃诮佑|被測(cè)物時(shí)流過(guò)大電流，因此能夠減少接點(diǎn)的損耗。
■可存儲(chǔ)99※2組測(cè)量條件最多可保存99組測(cè)量條件，可迅速對(duì)應(yīng)在重復(fù)測(cè)量較多的產(chǎn)線上切換被測(cè)物的情況?？衫肊XT I/O讀出任意測(cè)量條件?！? 3506-10最多為70組。
■標(biāo)配接觸檢查功能可檢測(cè)出測(cè)量過(guò)程中的接觸錯(cuò)誤。可另外管理有過(guò)接觸錯(cuò)誤的樣品，對(duì)提高成品率做出貢獻(xiàn)。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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