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展會邀請SNEC2020年太陽能光伏與智慧能源(上海)展覽會暨論壇
由亞洲光伏產(chǎn)業(yè)協(xié)會(APVIA)、中國可再生能源學會(CRES)、中國循環(huán)經(jīng)濟協(xié)會可再生能源專業(yè)委員會(CREIA)、上海市經(jīng)濟團體聯(lián)合會(SFEO)、上??茖W技術(shù)交流(SSTEC)、上海新能源行業(yè)協(xié)會(SNEIA)牽頭并邀請美國太陽能行業(yè)協(xié)會(SEIA)等25個機構(gòu)和組織聯(lián)合主辦的“SNEC第十四屆(2020)太陽能光伏與智慧能源(上海)展覽會暨論壇"(簡稱“SNEC光伏大會暨(上海)展覽會")將于2020年8月8-10日在上海新博覽隆重舉行。
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展會詳情
鉑悅展位號:W2-102
時間:2020年8月8日~10日
地點:新博覽(上海浦東新區(qū)龍陽路2345號)
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展館示意圖
【展示產(chǎn)品】
德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)
德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創(chuàng)新性的設(shè)計,可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測量重復(fù)性可以達到5?。臺階儀這項性能的提到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的,更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學領(lǐng)域。
光學輪廓儀Contour GT
用于工藝質(zhì)量監(jiān)控定標性測試系統(tǒng)ContourGT-X是實驗室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的高性能儀器。它積累了*代產(chǎn)品在白光干涉技術(shù)上的創(chuàng)新,實現(xiàn)了快速地三維表面測量,從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量,垂直分辨率可達亞納米級??删幊痰腦YZ控制和的掃描頭自動控制,使得儀器操作簡便易行。配備新的Vision64軟件,具有業(yè)界強的儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能,而其優(yōu)化設(shè)計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數(shù)據(jù)分析提供了很大的便利。
微區(qū)X射線熒光光譜儀 M4 TORNADO
微區(qū)X射線熒光光譜儀設(shè)備主要應(yīng)用于環(huán)境領(lǐng)域,可以快速的對不同種類的動植物樣品進行無損掃描,在此基礎(chǔ)上也可對大面積樣品進行元素分布成像研究。例如土壤重金屬的植物修復(fù),超富集植物蜈蚣草抗砷機制研究,植物根莖葉樣品的元素遷移過程、不同階段元素含量變化以及元素成像分析等。
I-V 曲線測試儀 PV200
PV200為光伏系統(tǒng)提供了一個率和的測試及診斷解決方案,能夠根據(jù)IEC 62446標準進行投運試驗,并且根據(jù)IEC 61829快速,準確的測試IV曲線。配合使用Solar Surver 200R輻照度計,PV200能將測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為STC標準值,是使用PV***或者SolarCert Elements上位機軟件,均支持與PV組件的出廠標定值進行直接對比。
PV200使用者
1. 光伏發(fā)電系統(tǒng)安裝人員
2. 光伏發(fā)電操作人員和測試技術(shù)人員
3. 光伏組件制造商
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