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          目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>>鍍層測試儀>> XD-1000電鍍層膜厚測量儀

          電鍍層膜厚測量儀
          • 電鍍層膜厚測量儀
          • 電鍍層膜厚測量儀
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 品牌 喬邦儀器
          • 型號 XD-1000
          • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
          • 所在地 深圳市
          屬性

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          更新時間:2024-04-30 07:46:05瀏覽次數(shù):386評價

          聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

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          應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子,電氣,綜合
          電鍍層膜厚測量儀
          X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。
          X射線的能量穿過金屬鍍層的同時,金屬元素其電子會反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們設(shè)計出:膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準則,故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。

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          X射線的能量穿過金屬鍍層的同時,金屬元素其電子會反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們設(shè)計出:膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準則,故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。

          X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長為0.000001 m (1μm)左右。

          我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學透視照片。另外也用于機場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類.

          高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。電鍍層膜厚測量儀

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          可靠的高性能:測試精度、穩(wěn)定性高,在提供高質(zhì)量的同時減少浪費和停機時間。

          更高的性價比:制造工藝升級,更具性價比,大大節(jié)省使用成本。

          前沿檢測技術(shù):高級成垂直光路系統(tǒng),采用*解譜技術(shù)和影像識別算法,實現(xiàn)精準、快速、智能、自動檢測,滿足企業(yè)檢測需求。

          使用壽命更長:模塊化設(shè)計,聚焦節(jié)能,搭載自動休眠模式,延長使用壽命。

          核心EFP算法:*EFP算法不但對多層測試精準、校準方便,而且解決了多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層的檢測難題。

          四焦一體裝置:搭載高集成四焦技術(shù),可測量最大90mm深度的凹槽高低落差異形件。

          上照式設(shè)計:上下位機管理分工,可實現(xiàn)對超大型工件的快、準、穩(wěn)高效測量。

          適用性強:精準測量各類金屬鍍層厚度的同時可對電鍍液進行分析。

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          自動:可編程自動位移平臺,無人值守、自動檢測樣品;一次編程,便可實現(xiàn)成百上千個樣品點的高效檢測。

          智能:實現(xiàn)自動AI影像智能尋點,編程檔案自動匹配測試位置,在面對大批同類型樣品檢測時,具備明顯的優(yōu)勢。

          在線:根據(jù)客戶要求,可個性化定制產(chǎn)線在線式檢測,為工業(yè)4.0提供在線檢測整體解決方案,提高檢測效率,實現(xiàn)自動智能化工廠。

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          XD-1000上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件,如線路板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等

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          電鍍層膜厚測量儀

          X射線的能量穿過金屬鍍層的同時,金屬元素其電子會反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們設(shè)計出:膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀,又稱金屬涂鍍層厚度測量儀,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準則,故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。

          X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長為0.000001 m (1μm)左右。

          我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學透視照片。另外也用于機場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類.

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