目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> x射線光譜分析儀，鍍層測(cè)厚儀
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更新時(shí)間：2024-04-27 18:56:47瀏覽次數(shù)：838評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝 |
儀器配置
1 硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) 半導(dǎo)體探測(cè)器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照、開放式樣品腔 (8）雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
x射線光譜分析儀，鍍層測(cè)厚儀參數(shù)規(guī)格
1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）；
2.同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)5層鍍層；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）；
5.SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV；
6.*微孔準(zhǔn)直技術(shù)：小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm；
7.樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭；
8.準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合；
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度：小于0.1um；
x射線光譜分析儀，鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)
1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái)；
2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng)；
3.*圖像識(shí)別；
4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)；
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換；
6.雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無縫防撞；
7.采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度。
安裝要求：
1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
3 工作電源：交流220±5V
4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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