目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> 喬邦x射線膜厚測試儀
產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),電子,印刷包裝 |
技術指標
X射線激發(fā)源:5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源
探測器及分辨率:SDD探測器,分辨率140±5eV
定位精度:0.001mm
測量時間:10s及以上
樣品平臺移動范圍:120mm×120mm
樣品腔升降平臺移動高度:0~150mm
硬件
主機壹臺,含下列主要部件:
(1)微焦斑X光管
(2)大面積SDD電制冷半導體探測器
(3)數(shù)字多道分析器
(4)超高精度三維移動平臺
(5)全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
(6)高低壓電源
(7)激光定位裝置及圖像自動對焦技術
(8)開放式樣品腔及鉛玻璃屏蔽罩
(9)電動調節(jié)準直器
(10)防撞激光保護器
資料:儀器使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。
標準附件
準直孔:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種(已內置于儀器中)