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更新時(shí)間:2024-04-26 20:49:08瀏覽次數(shù):1396評(píng)價(jià)
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,電子,印刷包裝,紡織皮革 |
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天瑞X射線熒光光譜儀EDX3000PLUS性能優(yōu)勢(shì):
1、高分辨率
采用SDD硅漂移探測(cè)器 ,分辨率為139±5ev ,而常規(guī)的Si-PIN探測(cè)器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。
2、高準(zhǔn)確度,性能優(yōu)
使用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù),提高分析速度,總體提高系統(tǒng)處理能力,計(jì)數(shù)率大可達(dá)8萬(wàn),比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
3、清晰攝像頭,準(zhǔn)確定位
采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī),樣品圖像更加清晰,輕松實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位。
4、小準(zhǔn)直器,輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測(cè)試
提供多種準(zhǔn)直器,直徑小達(dá)0.2mm,可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的準(zhǔn)確測(cè)試,同時(shí)可根據(jù)測(cè)試需求電動(dòng)切換準(zhǔn)直器,使測(cè)量更加輕松更加準(zhǔn)確。
5、一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱
FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線,操作一步到位。
天瑞X射線熒光光譜儀EDX3000PLUS技術(shù)參數(shù):
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)ppm級(jí)
分析含量一般為ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:139±5eV
儀器配置:
移動(dòng)樣品平臺(tái)
SDD探測(cè)器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
質(zhì)量:45Kg
應(yīng)用領(lǐng)域:
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)