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產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
美國福祿克Fluke接地電阻測試儀F1621
產(chǎn)品概述：
移動使用的手持式接地測試儀 Fluke 1621 是一款簡單易用的接地測試儀。 對于接地電阻測試場合，1621 是檢測可靠接地連接線路的*道防線。 裝置采用多種基本的接地測試方法，其中包括三極電壓降測試法及兩極接地電阻測試法。 它的尺寸輕巧方便，擁有結(jié)實的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏，使之成為大多數(shù)電氣接地工作場合的理想現(xiàn)場接地測試儀。 Fluke 1621 擁有簡單的用戶界面和直觀易用的功能，是一款電氣承包商、設(shè)備測試工程人員和接地專業(yè)人士*的手持式接地測試工具。
產(chǎn)品特性：
- 三極電壓降接地測試法進行基本的測量
- 兩極電阻測量法提供更多的功能
- 單鍵操作，輕松捕獲數(shù)值
- 自動“信噪”電壓檢測功能可確保精確的測量
- 危險電壓警告功能提供更高的用戶保護級別
- 大屏幕背光顯示屏便于清晰地讀取和記錄數(shù)據(jù)
- 結(jié)實耐用的皮套，設(shè)計用于苛刻的工作環(huán)境
- 小巧緊湊，方便攜帶
- 測量結(jié)果超過設(shè)定的限制值時立即發(fā)出警告（如果使用可調(diào)的限制設(shè)置）
- 600 V II 類
美國福祿克Fluke接地電阻測試儀F1621
常規(guī)技術(shù)指標 測量功能 三極接地電阻，兩極交流電阻，干擾電壓 基本誤差 查閱參考溫度范圍，提供一年保修 測量速率 每秒測量 2 次 電池 1 個 9 伏堿性電池 (LR61) 電池電量狀態(tài) 如果電壓低于 6.5 V，則會顯示 LO-BAT（低電量） 電壓 H/C2 和 E/C1 接頭之間： 大 250 Veff（有效電壓） S/P2 和 E/C1 接頭之間： 大 250 Veff 氣候類別 VDE/VDI 3540 RZ（符合 KWG，每個 DIN 40040，4/87） 溫度性能 工作： -10 °C 至 +50 °C（+14 °F 至 +122 °F） 操作： 0 °C 至 +35 °C（+32 °F 至 +95 °F） 存儲： -20 °C 至 +60 °C（+68 °F 至 +140 °F） 參考： +23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F) 溫度系數(shù) 量程的 ± 0.1 %，每開氏溫度 安全 IEC/EN 61010-1，600 V，II 類，2 級污染 尺寸 113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米（(4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸），包括護套 重量 850 克（1.9 磅），包括標準附件，體積約 600 立方厘米 注： 如果不使用測試儀，或需要*存放，請卸下電池并與測試儀分開存放，以免電池泄露對測試儀造成損害。 注： 測試儀的 4 個溫度范圍符合歐洲安全標準要求；通過使用溫度系數(shù)來計算工作環(huán)境溫度下的準確度，儀器可在整個溫度范圍內(nèi)正常工作。 電氣技術(shù)指標 大偏差： E1 影響因素 位置 E1 偏差影響 0% E2 影響因素 電壓 E2 偏差影響 0% E3 影響因素 溫度 E3 E3 偏差影響 2.3 % E4 影響因素 串行干擾電壓 (20 V) E4 偏差影響 0.6 % E5 影響因素 探針和輔助探針電阻 E5 偏差影響 10% 測試電壓 3.7 kV 保護等級 IP 40；IEC/EN 60529 電磁兼容性 輻射：EC/EN 61326，B 類 抗擾：IEC/EN 61326，附錄 C RE電阻測量 測量方法 使用改進的串擾衰減方法進行電流-電壓測量，無需補償導(dǎo)線電阻測量，使用探針（三極）或不使用探針（兩極），符合 IEC/EN 61557-5 標準 開放電路電壓 23 至 24 V ac 短路電流 > 50 mA ac 測量頻率 128 Hz 大許可過載 250 Veff 測量時間 8 秒（從按“開始”起計算的平均值） 限制輸入 即使測試儀關(guān)閉，仍會保留設(shè)定值（如果電池電量充足） 自動切換分辨率 RH < 7 kΩ 分辨率 0.01 Ω RH < 50 kΩ 分辨率 0.1 Ω RH > 50 kΩ 分辨率 1 Ω 干擾直流和交流電壓顯示 大電壓 30 Veff 共模抑制 > 80 dB，50 Hz 和 60 Hz Ri 680 kΩ 測量誤差 對于純交流電和直流電信號，< 10 % 量程 0.15 Ω 至 20 Ω 分辨率 0.01 Ω 顯示范圍 0 至 19.99 Ω 200 Ω 分辨率 0.1 Ω 顯示范圍 20 至 199.9 Ω 2 kΩ 分辨率 1 Ω 顯示范圍 200 至 1999 Ω 基本誤差 ±（測量值的 6 % + 5 位數(shù)字） 操作誤差 IEC 61557 ±（測量值的 18 % + 5 位數(shù)字） 注： [1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值，即會閃爍。
測量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。