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賽默飛攜旗下新半導體解決方案亮相SEMICON CHINA 2019
閱讀：730 發(fā)布時間：2019-3-212019年3月21日，賽默飛亮相于上海舉辦的SEMICON CHINA 2019展會，現(xiàn)場發(fā)布展示了其新一代的產(chǎn)品及半導體綜合解決方案，新品致力于提高工廠及分析性實驗室效率，進一步助力中國半導體事業(yè)的發(fā)展。
自2014年6月《國家集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展推進綱要》正式發(fā)布，中國的半導體行業(yè)拉開了高速發(fā)展的序幕。近年來，應用可編程芯片(FPGA)、人工智能云端以及邊緣運算端芯片等一系列前沿技術(shù)的半導體新產(chǎn)品開發(fā)正如火如荼地進行——半導體產(chǎn)業(yè)的技術(shù)節(jié)點也在不斷提高，實現(xiàn)更先進的制程工藝、更高的良率、更大的產(chǎn)能成為半導體行業(yè)迫切需要面對和解決的問題。賽默飛中國區(qū)總裁艾禮德（Tony Acciarito）表示：“新興技術(shù)市場趨勢以及政策支持正為中國半導體和電子科技產(chǎn)業(yè)帶來了的機遇，秉持‘扎根中國、服務中國’的發(fā)展戰(zhàn)略，我們期待利用自身在半導體行業(yè)的豐富經(jīng)驗及優(yōu)勢，攜手本土合作伙伴，共同推動中國半導產(chǎn)業(yè)的發(fā)展和創(chuàng)新。”
在此次SEMICON CHINA 2019上，賽默飛從多個維度綜合展現(xiàn)了其在實驗室方案、失效分析、環(huán)境分析以及生產(chǎn)支持方面的綜合能力以及一體化解決方案。其中以Thermo Scientific™ Helios 5為代表的一眾新品，也通過SEMICON CHINA 2019這個的平臺次在中國與業(yè)界的朋友們見面。
近幾年來，半導體工業(yè)已經(jīng)普遍接受使用ELITE (Enhanced Lock In Thermal Emission) 實現(xiàn)電性失效分析定位的工作。ELITE具有的靈敏度，可以幫助傳統(tǒng)EMMI / OBIRCH 檢測的不足。ELITE 還可以作為非破壞性檢測，對于封裝后的元件，分析失效點深度的位置。除了先進制程和封裝的需求，針對功率元件在車用電子的應用，ELITE還支持高電壓的測試。
Thermo Scientific™ Nicolet™ iG50 FT-IR 光譜儀
賽默飛Nicolet旗下 iS50/iG50 系列硅片分析系統(tǒng)為硅片的研究或者大規(guī)模制造的質(zhì)量控制提供了靈活強大的解決方案。 Nicolet iS50/iG50 系列硅片分析系統(tǒng)主要可以應用于氧、碳含量分析以及外延層 （EPI） 厚度測量。除此之外，iS50/iG50還可以應用于鈍化層分析，例如：PSG、BSG、PBSG 中 PB 含量、Si中H的含量測定以及FSG。
Thermo Scientific™ Nicolet™ iN10 光譜儀
賽默飛Nicolet旗下 iN10是一種直觀、創(chuàng)新、集成的一體化傅里葉變換顯微紅外光譜儀，具有安裝簡便、性能、光譜質(zhì)量高的特點。Nicolet iN10 顯微紅外光譜儀在半導體微電子領域主要應用于：固化膠的固化率測定、電子材料的分析與表征、顯示材料的剖析與表征以及異物分析。
Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS
支持三重四極桿技術(shù)的 Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS 是一種高性能 ICP-MS，適用于在與半導體行業(yè)相關的多種挑戰(zhàn)性基質(zhì)中進行痕量元素超痕量定量檢測。在不犧牲其作為靈敏、易用的工作臺儀器所具備的檢測能力的前提下，具有三重四極桿技術(shù)出色的干擾去除能力，可更好地對各種具挑戰(zhàn)性的基質(zhì)中的元素雜質(zhì)進行檢測。由于 iCAP TQs ICP-MS 占地面積小，加上具有簡化的工作流程并支持自動化方法開發(fā)而特別易于使用，使其成為用于確保關鍵生產(chǎn)工藝一致性和提高半導體硅片加工產(chǎn)量而進行在線質(zhì)量控制的理想檢查工具。
Thermo Scientific™ NESLAB ThermoFlex 系列
性能可靠的多用途制熱/冷卻恒溫循環(huán)器，可為需要的小型實驗室到大型工業(yè)過程，提供制熱/冷卻恒溫循環(huán)的關鍵應用，高可達24000瓦的制熱/冷卻恒溫循環(huán)能力。本產(chǎn)品提供創(chuàng)新平臺，可配置的設計，易于操作，以及的性能。