高低溫恒溫恒濕試驗箱符合溫濕度測試標準風循環(huán)系統(tǒng)，可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測試條件，搭配容易操作和學習的高準確性編程系統(tǒng)，廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品零部件在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，確定上述產品對高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應性，特別是產品電氣性能和機械性能的變化情況 也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力

高低溫恒溫恒濕試驗箱符合溫濕度測試標準風循環(huán)系統(tǒng)，可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測試條件，搭配容易操作和學習的高準確性編程系統(tǒng)，廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品零部件在高低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，確定上述產品對高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應性，特別是產品電氣性能和機械性能的變化情況   也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力

高低溫恒溫恒濕試驗箱符合標準

1、GB10592-2008 高、低溫試驗箱技術條件(溫度變化）

2、GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1:2007） 試驗A：低溫試驗方法

3、GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1：2007） 試驗 B：高溫試驗方法

4.GB/T2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-78:2001） 試驗 Cab：恒定試驗方法

5.GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：（IEC68-2-14） 試驗 N：溫度變化

6.GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗方

7.GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗方

8.GB 24977-2010

9.GB/T 4893.7-2013

主要技術參數

 

注：高低溫恒溫恒濕試驗箱可以根據客戶要求，定制非標尺寸，溫濕度顯示精度，均勻度等都滿足市場上標準范圍。