水浸式探頭

水浸式探頭，通常用于半自動(dòng)或者自動(dòng)化探傷系統(tǒng)中。工件和探頭浸入水中，探頭與工件的檢測(cè)面之間保持一定距離的“水延遲"。探頭并不直接接觸工件，因此不規(guī)則的、幾何形狀復(fù)雜的或者表面粗糙的工件探傷成為可能。

• 當(dāng)探頭發(fā)射的聲束軸線垂直于檢測(cè)面時(shí)，縱波直聲束掃查工件。

• 調(diào)節(jié)探頭聲束軸線與檢測(cè)面成一定的夾角，聲束在水和工件這兩種介質(zhì)的界面折射，可在工件中產(chǎn)生傾斜的橫波聲束來(lái)掃查工件。

• 將探頭晶片前面的有機(jī)玻璃或者固化的環(huán)氧樹脂加工成一定弧度（球面或者圓柱面），可得到點(diǎn)聚焦或者線聚焦的水浸式探頭。

• 兩種類型性能的探頭可滿足絕大多數(shù)檢測(cè)要求。

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水浸式探頭（平面）

*探頭型號(hào)中N為窄脈沖探頭。

水浸式探頭（點(diǎn)聚焦）

*探頭型號(hào)中N表示窄脈沖探頭。
**F 客戶要求的水中焦距值。
其他頻率、晶片大小的點(diǎn)聚焦探頭接受定制。

水浸式探頭（線聚焦）

**F 客戶要求的水中焦距值。
其他頻率、晶片大小、焦距的線聚焦探頭接受定制。

應(yīng)用范圍：

“P"通用型系列：用于需要高靈敏度與穿透力的通用檢測(cè)場(chǎng)合。

“C"壓電復(fù)合材料系列：具有高靈敏度，高帶寬，高分辨力以及穿透力強(qiáng)的特點(diǎn)，用于粗晶、高衰減材料檢測(cè)時(shí)，可獲得非常好的檢測(cè)效果。