雙通道紫外輻照計UV-313/UV-340
該款紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的

UV-313/UV-340雙通道紫外輻照計

產(chǎn)品概述

      該款紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。京海興樂科技（北京）有限公司提供儀器維修，產(chǎn)品計量，技術培訓，產(chǎn)品配件，儀器技術支持。

產(chǎn)品特點

    光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
    數(shù)字液晶顯示，帶背光
    手動/自動量程切換
    數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
    低電量提醒
    自動延時關機
    有數(shù)字保持
    輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

項目	參數(shù)	備注
波長范圍λ1，峰值波長λp	（290～340）nm，λP＝313nm	配備兩只探頭
波長范圍λ2，峰值波長λp	（315～370）nm，λP＝340nm
輻照度測量范圍	（0.1～199.9×103） μW/cm2
零值誤差（滿量程FS）	<滿量程的±1.0%
長波響應誤差	<15%
余弦特性（方向性響應）誤差	<10%
非線性誤差	<±1.5%
換檔誤差	<±1.0%
疲勞誤差	<3.0%
相對示值誤差	<±8.0％（相對于NIM標準）
響應時間	<1秒
使用環(huán)境	溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源	6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗	＜0.1VA

序號	配件名稱	件數(shù)	備注
1	讀數(shù)顯示單元	1
2	探頭	2	313nm，340nm各一只
3	探頭蓋	2
4	數(shù)據(jù)線	1
5	說明書	1
6	合格證/保修單	1
7	9V積層電池	1
8	儀器包裝箱	1