產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
【x射線熒光測厚儀生產(chǎn)廠家】產(chǎn)品介紹
Thick 8000 x射線熒光測厚儀(國產(chǎn))是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定; 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測,廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、開關(guān)、等企業(yè),天瑞儀器是,分析儀器企業(yè),產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務(wù)。
性能優(yōu)勢
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位 精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測試平臺(tái),方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測試平臺(tái)并自動(dòng)完成對焦
直接全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)
軟件界面測試按鈕,自動(dòng)完成測試并顯示測試結(jié)果
技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)檢測元素:多24個(gè)元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測器:分辨率低135eV
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃
【x射線熒光測厚儀生產(chǎn)廠家】測試實(shí)例
在計(jì)數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素,大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。
11次測量結(jié)果(Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對比如下:
次數(shù) | Thick8000 | 行業(yè)內(nèi)其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 |