設備介紹

EDX 3600KX射線光譜儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術達到水平。

具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。

硬件配置

自動切換型準直器和濾光片

真空腔體

自動穩(wěn)譜裝置

鈹窗電制冷SDD探測器

自旋式樣品腔

高效超薄窗X光管

超近光路增強系統(tǒng)

可自動開啟的測試蓋

90mm×70mm的液晶屏

的數(shù)字多道技術

多變量非線性回歸程序

相互獨立的基體效應校正模型

軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點。

具有多種測試模式設置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

的軟件界面和內(nèi)核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。

技術參數(shù)

型號：EDX3600K

X射線源：50KV、1mA

樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：能量色散X熒光分析方法

測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量

檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素

含量范圍：ppm～99.99%

檢測時間：10秒以上

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器125eV

激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇

攝像頭：高清攝像頭

測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以

準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換

自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置

檢出限：對樣品中的大多數(shù)元素來說，檢出限達5～500ppm

真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa

數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術，快速分析，高計數(shù)率

測試臺：360°電動旋轉(zhuǎn)式

保護系統(tǒng)：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成

樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動

數(shù)字多道技術：計數(shù)率>50kcps，有效計數(shù)率高500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

應用領域

專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領域。

同時在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。

X射線光譜儀屬于的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經(jīng)典的化學精密機械電子學結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應用模式，轉(zhuǎn)化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結(jié)構(gòu)，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式技術為基礎，結(jié)合國外相關新的技術發(fā)展成果，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型。