新一代Genius XRF手持式X射線鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)在現(xiàn)場(chǎng)，野外進(jìn)行X熒光分析的應(yīng)用而設(shè)計(jì)，具有體積小，重量輕，普通人可手持測(cè)量的特點(diǎn)；產(chǎn)品超小、超輕、超美、超安全、超方便、超長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間、超防水、超準(zhǔn)、超快等特點(diǎn)，并在小型X射線儀上引入了數(shù)字多道技術(shù)，使儀器檢出限更好，穩(wěn)定性更高，適用面更廣。

產(chǎn)品包括有害元素分析儀，合金鍍層分析儀，礦石分析儀，土壤重金屬分析儀，XRF等一系列型號(hào)，可充分滿足從原料檢測(cè)，生產(chǎn)過(guò)程控制到成品檢驗(yàn)中各種元素成分的現(xiàn)場(chǎng)在線分析，金屬材料的可靠性鑒別和合號(hào)快速識(shí)別，土壤重金屬現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，各類地質(zhì)礦樣的野外原位多元素分析等市場(chǎng)需求。

該系列產(chǎn)品通過(guò)嚴(yán)格檢測(cè)和驗(yàn)證，各項(xiàng)指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)要求，技術(shù)達(dá)水平。產(chǎn)品已開始批量銷售于國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)，受到客戶的好評(píng)，打破國(guó)外廠家的壟斷。

性能優(yōu)勢(shì)

性能堪比臺(tái)式機(jī)
小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測(cè)器（世界上的探測(cè)器）及微型數(shù)字信號(hào)多道處理器三大核心技術(shù)的引入，大幅降低測(cè)試時(shí)間、提高檢測(cè)精度、減少測(cè)試誤差，使手持式儀器具有與臺(tái)式相近的測(cè)試性能。
小巧便攜、操作快捷
體積很小，便攜、方便野外工作。隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析。
無(wú)損檢測(cè)
整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞
快速檢測(cè)
儀器既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行快速測(cè)試，也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測(cè)量。
新增輕元素檢測(cè)功能
較三代手持式X熒光分析儀（手持式X射線鍍層測(cè)厚儀），增加了可充氣系統(tǒng)，可采用常壓充氦氣系統(tǒng)對(duì)設(shè)備充氣。從而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)從Mg開始的元素，大大擴(kuò)展測(cè)試元素范圍，滿足特定客戶輕元素檢測(cè)需求。
直接測(cè)定無(wú)需制樣
野外分析無(wú)需制備樣品，可直接在待測(cè)物表面進(jìn)行測(cè)定，可分析任何樣品類型，包括電子電器產(chǎn)品、鍍層厚度、合金樣品、地質(zhì)礦產(chǎn)、土壤、巖石、泥土、殘?jiān)?、固體小顆粒、液體沉積物等。
高清攝像頭檢測(cè)更加


性能指標(biāo)

分析方法：能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍：鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測(cè)量
同時(shí)檢測(cè)元素：數(shù)幾十種元素可同時(shí)分析
處理器和內(nèi)存：CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴(kuò)展存儲(chǔ)支持32G，標(biāo)配2G，可以海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。
含量范圍：ppm～99.99%
檢測(cè)時(shí)間：3-30秒
GPS、WIFI：內(nèi)置系統(tǒng)
電池使用時(shí)間：可充電鋰電池，電池電量7800mAH,可持續(xù)工作8小時(shí)；配有寬電壓110V-220V通用適配器，可交流供電使用。
檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末
探測(cè)器：25mm2 0.3mil，SDD探測(cè)器
探測(cè)器分辨率：可達(dá)139eV
激發(fā)源：50KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
準(zhǔn)直器和濾光片：直徑4.0和2.0mm準(zhǔn)直器，6種濾光片組合自動(dòng)切換，12種組合，世界上多的組合方式，可滿足各種類樣品的測(cè)試
檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末
 

手持鍍層測(cè)厚儀測(cè)樣圖片