下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
高分辨率SDD探測(cè)器:提高分析的性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
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更新時(shí)間:2023-11-07 15:08:39瀏覽次數(shù):770
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檢測(cè)ROHS的儀器_天瑞儀器
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
高分辨率SDD探測(cè)器:提高分析的性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
儀器介紹
移動(dòng)樣品平臺(tái)
SDD探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
檢測(cè)ROHS的儀器_天瑞儀器性能優(yōu)勢(shì)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
技術(shù)參數(shù)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:140±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
指令介紹
目前對(duì)于不同的電子材料,元件,板材等,業(yè)界主要還是各家公司自己的具體要求來(lái)執(zhí)行?,F(xiàn)在有兩種講法對(duì)于無(wú)鹵素,1.BSEN14582測(cè)試方法,這種根本測(cè)不出(<50ppm)的CI,Br;2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒(méi)有對(duì)總含量定義。有些公司定義的測(cè)試方法及測(cè)試樣品的選取都有不同,樣品數(shù)量太少的話,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果會(huì)有很大偏差。也有分產(chǎn)品中含有的鹵素是刻意添加(配方中的成分)及非刻意添加(雜質(zhì))?這些具體的要求,目前法規(guī)還沒(méi)有明確定義,都是由各個(gè)廠家自己要求確定。
各標(biāo)準(zhǔn)組織的測(cè)試方法如下,
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法(Ion chromatography) 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
傳統(tǒng)只是對(duì)鹵化物有定義要求,采用鉻酸銀試紙,氟點(diǎn)測(cè)試等方法檢測(cè)只是對(duì)鹵化物的離子進(jìn)行定性的測(cè)試方法,如果要定量的話還得用離子層析法(Ion chromatography)。
無(wú)鹵素與無(wú)鹵化物不是一個(gè)概念,鹵化物是以游離的鹵素離子存在,而鹵素則可以共價(jià)的方式形成含有鹵素的化合物,并且用離子層析法(Ion chromatography)是測(cè)不到游離的鹵素離子存在的。所以,目前的鹵素測(cè)試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測(cè)樣品共價(jià)存在的鹵素破壞原先的結(jié)構(gòu),使其變?yōu)橛坞x的離子形態(tài)的鹵素,可以被離子層析法(Ion chromatography) 檢測(cè)到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測(cè)到。
以上為鹵素標(biāo)準(zhǔn)采用的測(cè)試方法;目前rohs測(cè)試主要是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的,IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測(cè)試方法,及XRF在rohs中的作用,并且注明了XRF測(cè)試結(jié)果如何判定是否符合標(biāo)準(zhǔn),目前電子電器行業(yè)對(duì)于Cl,Br的測(cè)試是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的,判斷其結(jié)果是否符合標(biāo)準(zhǔn)也是按照此文件內(nèi)的30%的偏差來(lái)判斷的。