下照式:可滿(mǎn)足各種形狀樣品的測(cè)試需求:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿(mǎn)足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn):高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
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更新時(shí)間:2023-11-07 13:11:01瀏覽次數(shù):758
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天瑞XRF探測(cè)器電制冷Si-PIN探測(cè)器:信噪比增強(qiáng)器
下照式:可滿(mǎn)足各種形狀樣品的測(cè)試需求:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿(mǎn)足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn):高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
(*)
探測(cè)器產(chǎn)品外觀圖片及探頭結(jié)構(gòu)圖
探測(cè)器產(chǎn)品的系統(tǒng)框圖
典型應(yīng)用
配套的采集軟件采集的多元素測(cè)試地質(zhì)礦產(chǎn)樣品的光譜圖
1、Si-pin 2、SDD 3、Super-SDD(FAST-SDD)
SDD探測(cè)器典型分辨率
SuperSDD探測(cè)器典型分辨率
Sipin探頭的不同成型時(shí)間分辨率與計(jì)數(shù)率的關(guān)系
SDD探頭的不同成型時(shí)間分辨率與計(jì)數(shù)率的關(guān)系
Super-SDD(FAST-SDD)不同成型時(shí)間分辨率與計(jì)數(shù)率的關(guān)系
SDD探測(cè)器吞吐量圖(輸入計(jì)數(shù)率與輸出計(jì)數(shù)率的關(guān)系)
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)ROHS檢測(cè)儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,氣相色譜儀,ROHS測(cè)量儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀, ROHS檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000等。