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天瑞鹵素分析儀對于不同的電子材料，元件，板材等，業(yè)界主要還是各家公司自己的具體要求來執(zhí)行。現(xiàn)在有兩種講法對于無鹵素，1.BSEN14582測試方法，這種根本測不出（<50ppm）的CI,Br；2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒有對總含量定義。有些公司定義的測試方法及測試樣品的選取都有不同，樣品數量太少的話，導致測試結果會有很大偏差。
天瑞鹵素分析儀各標準組織的測試方法如下，
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法（Ion chromatography） 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
傳統(tǒng)只是對鹵化物有定義要求，采用鉻酸銀試紙，氟點測試等方法檢測只是對鹵化物的離子進行定性的測試方法，如果要定量的話還得用離子層析法（Ion chromatography）。
無鹵素與無鹵化物不是一個概念，鹵化物是以游離的鹵素離子存在，而鹵素則可以共價的方式形成含有鹵素的化合物，并且用離子層析法（Ion chromatography）是測不到游離的鹵素離子存在的。所以，目前的鹵素測試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測樣品共價存在的鹵素破壞原先的結構，使其變?yōu)橛坞x的離子形態(tài)的鹵素，可以被離子層析法（Ion chromatography） 檢測到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測到。
以上為鹵素標準采用的測試方法；目前rohs測試主要是參考IEC62321文件來進行的，IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測試方法，及XRF在rohs中的作用，并且注明了XRF測試結果如何判定是否符合標準，目前電子電器行業(yè)對于Cl，Br的測試是參考IEC62321文件來進行的，判斷其結果是否符合標準也是按照此文件內的30%的偏差來判斷的。
鹵素分析儀廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產ROHS分析儀，氣相色譜質譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。