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天瑞儀器鍍層測厚儀測量結(jié)果度的幾個因素
天瑞儀器鍍層測厚儀主要用于涂布、錫膏、涂層、漆膜、涂鍍層、厚度測量。利用激光熱輻射傳到時間原理，可以測量濕潤的或干燥的圖層，如可溶性和水基漆，粉狀漆或琺瑯質(zhì)薄膜。這些薄膜可以是涂覆在金屬、橡膠和陶瓷上。測量頭和被測表面非接觸測量，實時快捷，允許應(yīng)用在油漆環(huán)境。測厚儀直接和PC機相連接，適合于過程控制。測量頭到控制面之間電纜長3米。是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。有用戶反饋儀器在使用過程中出現(xiàn)測量結(jié)果不的情況，那么，哪些原因虎造成其測量結(jié)果不呢？以下是影響天瑞儀器鍍層測厚儀測量結(jié)果度的幾個因素，給大家做個參考！
一、人為因素：這種情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。鍍層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體，使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。
二、附著物質(zhì)的影響：鍍層測厚儀對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進行系統(tǒng)矯正時，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
三、鍍層測厚儀發(fā)生故障：此時可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
四、強磁場的干擾：當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機現(xiàn)象。
五、在系統(tǒng)矯正時沒有選擇合適的基體：基體小平面為0.3mm，小厚度為0.005um，低于此臨界條件測量是不可靠的。